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文檔簡介
1、對SnO<,2>:F、ZnTe:Cu化合物半導體多晶薄膜和CdS/CdTe多晶薄膜太陽電池進行電子輻照,研究輻照能量、注量對薄膜性質(zhì)和器件性能的影響,可明晰多晶薄膜和器件的損傷機制,這對發(fā)展新型抗輻照、穩(wěn)定和低質(zhì)量功率比的空間太陽電池有重要意義。 對化合物半導體多晶薄膜的電子輻照研究結(jié)果表明,SnO<,2>:F薄膜在受到1MeV不同注量的電子輻照后,除了霍爾系數(shù)在輻照后出現(xiàn)增長的趨勢外,載流子濃度和遷移率均減小,出現(xiàn)了非線性的變
2、化趨勢。而ZnTe:Cu薄膜受到電子輻照后,遷移率及霍爾系數(shù)都明顯降低,當輻照注量達到1×10<'16>cm<'-2>時,衰降97.8%,載流子濃度隨著輻照注量的增大而大幅度增大。 對碲化鎘多晶薄膜太陽電池進行了不同注量的1MeV電子輻照,結(jié)果表明:開路電壓與輻照注量基本無關,玻璃輻照變色導致電池短路電流密度降低,輻照可能導致邊緣短路加劇,這些因素共同導致輻照后樣品轉(zhuǎn)換效率降低;輻照前后電池的二極管理想因子無明顯改變,均在2.3
3、-3之間。輻照后的樣品在正向偏壓超過1伏時,電池電容比輻照前減小約1nF/cm<'2>。 對碲化鎘多晶薄膜太陽電池進行了不同注量的0.5MeV電子輻照,結(jié)果表明:在正向偏壓超過1.0伏時,樣品受到低注量電子入射后,電池電容比輻照前減小了約0.01nF/cm<'2>。當輻照注量增大后,輻照后的電池電容較輻照前大,增幅隨著輻照注量增大而減小。當注量達到1×10<'16>/cm<'2>時,增幅突然增大。電池受輻照后帶隙狀態(tài)密度明顯減小
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