納米光纖探針制備及其在基于SPR光纖傳感系統(tǒng)中的應(yīng)用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文的主要目的是制備一種可以應(yīng)用于進(jìn)行單細(xì)胞內(nèi)無損熒光檢測的納米光纖探針,并對制作好的光纖探針進(jìn)行鍍膜處理。另外,組織搭建一個(gè)基于表面等離子體共振(SPR)的光纖傳感系統(tǒng)測試平臺(tái),并嘗試應(yīng)用制作和處理好的光纖探針作為傳感探頭進(jìn)行初步測試,以期建立新的適用于單細(xì)胞非熒光方式檢測的方法。 通過分析不同的光纖探針制作方法對探針錐形結(jié)構(gòu)及其表面狀態(tài)的影響,以及鍍膜光纖探針錐形形狀對傳輸特性的影響,找到了適合用于單細(xì)胞熒光分析的納米光纖探

2、針的結(jié)構(gòu)參數(shù)。應(yīng)用以加熱熔融拉伸為主,必要時(shí)應(yīng)用化學(xué)腐蝕作以修飾的方法進(jìn)行了納米光纖探針的制作,并對制作探針過程中所出現(xiàn)的問題作了分析研究,獲得了合理有效的探針制作參數(shù)和方法。應(yīng)用真空濺射和化學(xué)鍍膜兩種方法對制作的光纖探針進(jìn)行了鍍膜處理,并對這兩種鍍膜方法及其鍍膜效果作了比較分析,獲得了有效合理的鍍膜參數(shù)。 最終,制作完成了適合單細(xì)胞內(nèi)熒光分析的納米光纖探針。實(shí)驗(yàn)得到的光纖探針尖端直徑在48~80nm之間,符合細(xì)胞內(nèi)無損測量要求

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