混波室設(shè)計及其在電磁兼容測試中的應(yīng)用.pdf

1、該文以理論、數(shù)值計算與實(shí)驗(yàn)相結(jié)合的方法分析了混波室的統(tǒng)計模型、攪拌器配置及不同加載情況對混波室性能的影響、局部平均效應(yīng)對混波室測試結(jié)果的影響和混波室在電磁兼容測試中的應(yīng)用，主要的研究內(nèi)容有以下幾個方面： 1．推導(dǎo)了混波室一維及三維場的場強(qiáng)和功率的概率密度函數(shù)等統(tǒng)計特性，并將實(shí)際測試結(jié)果與各種理想的統(tǒng)計模型比較，檢驗(yàn)統(tǒng)計模型的正確性。 2．分析如何建立混波室的FDTD模型，驗(yàn)證所建模型的正確性；用FDTD方法實(shí)驗(yàn)方法分析了

2、不同攪拌器大小形狀對混波室性能的影響；實(shí)驗(yàn)分析攪拌器組合對混波室性能的影響。 3．從K-S擬合度測試和相關(guān)性兩個方面實(shí)驗(yàn)分析不同加載量對混波室性能的影響；數(shù)值和實(shí)驗(yàn)分析加載不同大小的金屬EUT對混波室性能的影響。 4．分析天線口徑和攪動步長對混波室性能測試的影響，并從方差系數(shù)及各向異性系數(shù)等方面來量化這種影響，并給出了天線口徑和攪動步長對混波室性能測試影響的實(shí)驗(yàn)分析。 5．理論分析在混波室中進(jìn)行的輻射發(fā)射測試與在

3、其它場地中進(jìn)行測試之間的對應(yīng)關(guān)系，實(shí)驗(yàn)對比分析了在混波室和GTEM小室中進(jìn)行輻射發(fā)射測試的相關(guān)性：分析如何在混波室中進(jìn)行輻射敏感度測試，并與開闊場中的敏感度測試進(jìn)行比較；討論了混波室在屏蔽效能測試中的應(yīng)用。 論文中得出的主要結(jié)論為： 1．不對稱的攪拌器有利于提高攪拌器效率；攪拌器至少有一維尺寸大于一個波長，但攪拌器設(shè)計時僅考慮一維尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠，要綜合考慮三維尺寸和攪拌體積。 2．一個作用效果好的攪拌器加上一個作用

4、效果差的攪拌器并不能明顯改善其總體作用效果，但用兩個作用效果不佳的攪拌器共同作用會顯著提高攪拌器的效率；可通過改變攪拌器的轉(zhuǎn)動角度比來改善攪拌器的總體作用效果。 3．一定量的加載會使混波室的各項(xiàng)性能指標(biāo)提高，但進(jìn)一步加載會增加相關(guān)性，減少獨(dú)立采樣數(shù)；加載金屬EUT時，雖然其對混波室加載可能較小，但會影響混波室的場均勻性。 4．用進(jìn)行混波室校準(zhǔn)或用混波室進(jìn)行電磁兼容測試時，必須考慮天線口徑大小和攪動步長對測試的影響。