手機(jī)用TFT-LCD驅(qū)動(dòng)控制芯片測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、本論文的研究?jī)?nèi)容是國(guó)家“863”資助項(xiàng)目“用于彩屏手機(jī)的液晶顯示驅(qū)動(dòng)控制電路芯片開發(fā)”的一部分。作者以該芯片的測(cè)試和測(cè)試電路設(shè)計(jì)工作為基礎(chǔ)，結(jié)合現(xiàn)代集成電路測(cè)試和可測(cè)試設(shè)計(jì)理論，并考慮到工程應(yīng)用中的可實(shí)現(xiàn)性和可操作性，為該類型芯片的測(cè)試評(píng)價(jià)提出了一套高效率、低成本的測(cè)試解決方案。論文的主要工作如下： ·針對(duì)TFT-LCD驅(qū)動(dòng)控制芯片的異步接口和控制邏輯采用了一種異步邏輯同步化的處理方法。同步化后的異步電路測(cè)試時(shí)可以引進(jìn)常規(guī)的掃描

2、測(cè)試技術(shù)，并能直接使用商業(yè)化的ATPG工具進(jìn)行測(cè)試生成，從而保證測(cè)試質(zhì)量和效率。 ·針對(duì)TFT-LCD驅(qū)動(dòng)控制芯片內(nèi)置圖形SRAM特殊的測(cè)試需求，采用了一種移位存儲(chǔ)器的可測(cè)試設(shè)計(jì)策略，結(jié)合邏輯電路中的BIST控制器設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程中芯片的內(nèi)置邏輯電路和．ATE設(shè)備負(fù)載均衡。 ·針對(duì)內(nèi)置電源電路的特殊性采用了一種電源電路專用測(cè)試方法，該方法將電源電路本身的測(cè)試和芯片整體測(cè)試分開，使得芯片在大規(guī)模量產(chǎn)測(cè)試時(shí)能采用統(tǒng)一的

3、標(biāo)準(zhǔn)，保證了量產(chǎn)時(shí)的測(cè)試效率。 ·針對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路特殊的測(cè)試需求，選取了一套合理的測(cè)試評(píng)價(jià)指標(biāo)，利用該指標(biāo)體系對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路進(jìn)行評(píng)價(jià)，既可以保證測(cè)試質(zhì)量，又能提高測(cè)試效率。 ·對(duì)目前工業(yè)界具有代表性的ATE供應(yīng)商---Sdvantest公司的LCD測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了介紹，并在該測(cè)試系統(tǒng)上完成了龍騰“T1”芯片的測(cè)試評(píng)價(jià)工作。本文中提到的技術(shù)和方法已被應(yīng)用于龍騰“T1”的工程測(cè)試實(shí)踐中，通過將Wafer測(cè)試結(jié)果和模組測(cè)試結(jié)果進(jìn)