數(shù)控機床幾何誤差非接觸圓軌跡檢測方法研究.pdf

1、幾何誤差是影響數(shù)控機床精度的一個重要因素,通過測量機床的各項幾何誤差并加以補償,可以很好地改善機床的運動精度,從而大大提高機床的加工精度.因此,如何快速、準確的測量數(shù)控機床幾何誤差顯得十分重要.國內外主要采用激光干涉儀單項誤差檢測法和球桿儀法檢測數(shù)控機床幾何誤差,激光干涉儀單項誤差檢測法精度高,但存在測量過程復雜,測量耗時較多等缺點；球桿儀操作簡單,測量速度快,但存在測量范圍窄,難以實現(xiàn)高精度測量等缺點. 本文提出了一種基于圓測

2、法的非接觸數(shù)控機床幾何誤差檢測方法,該方法適合于FXYZ型機床的幾何誤差的測量,具有測量精度高,測量范圍大,測量效率高等特點.當數(shù)控機床在XOY平面做圓軌跡運動時,用測量精度較高的激光干涉儀,配合由半導體激光器和二象限硅光電池組成的光電瞄準器,可測得數(shù)控機床主軸在圓軌跡上每一個測量點的綜合誤差,再運用單項誤差分離模型,結合最小二乘法,即可得到XOY平面上除角運動誤差外的5項幾何誤差. 論文對非接觸圓軌跡幾何誤差測量方法進行了探討