浪涌沖擊實驗

1、浪涌沖擊實驗1.250μS和820μS波形1、混合波(也叫組合波)發(fā)生器的由來1.250μS和820μS波形是IEC在1960年同時公布的。1.250μS波形的用途之一是測試設備絕緣耐壓，同時，1972年CCITT藍皮書K12將1.250μS波形用來測試放電管的沖擊放電電壓，而不是單純用來測試設備絕緣耐壓。起先，1.250μS電壓波和820μS電流波分別用兩套設備產生，20世紀80年代初電磁兼容和雷電磁脈沖防護結合后IECTC77提出在

2、電磁屏蔽效果較好的地方對雷電浪涌的試驗相對等級可以低一些。因此，用1.250μS波形測限制電壓與用820μS波形測沖擊放電電流能力時，可用同一套沖擊發(fā)生器完成試驗。IEC的SC28A對采用什么樣的電壓浪涌波形和浪涌電流波形去檢測運行中的設備及浪涌保護器的絕緣配合，做了深入討論。最后確定采用1.250μS波形雷電電壓浪涌和820μS波形電流浪涌，以及100kHz的衰減振蕩波為浪涌試驗波形。1983年后，認識到將電壓浪涌試驗與浪涌電流試驗結

3、合在一起用所謂的“組合波發(fā)生器”來進行試驗更加方便。這種組合波發(fā)生器開路時產生浪涌電壓為1.250μS波形，短路時產生浪涌電流820μS波形，其額定沖擊源內阻為2Ω。2、混合波發(fā)生器的波形參數IEC61000－4－5:1995《ElectromagnicCompatibity—Testingmeasurementtechniques—Surgeimmunity》等同于國標GB17626.5－1999《電磁兼容試驗和測量技術浪涌(沖擊)抗

4、擾度試驗》對1.250μS&820μS混合波形參數規(guī)定如下：開路電壓波波形:波前時間：1.230％μS半峰時間：5020％μS短路電流波形:波前時間：820％μS半峰值時間：2020％μS反向過沖：＜30％等效源阻抗：20.25Ω測量時規(guī)定的開路電壓峰值或短路電流峰值允許有10％的偏差3、組合波發(fā)生器的特征：對于低阻抗試品，組合波發(fā)生器能模擬輸出820μS波形，可作為沖擊電流發(fā)生器使用；對于高阻抗試品，組合波發(fā)生器能模擬輸出1.250μ

5、S波形，可作為沖擊電壓發(fā)生器。因此，組合波發(fā)生器集1.250μS沖擊電壓發(fā)生器和820μS沖擊電流發(fā)生器于一身，一臺機器可做兩臺機器用。在低壓系統(tǒng)中，為了對電涌保護器進行試驗，在相關標準中提出了采用混合波形模擬雷電電磁脈沖，主要基于兩個方面的考慮：一是，某些情況下試品的阻抗特性可能未知，而且試品內部沖擊保護元件動作，產生鉗位或短路作用，或者絕緣閃絡、元件擊穿都會引起試品阻抗特性在沖擊作用下發(fā)生變化，很難用單一的沖擊電壓或電流來全面測試其

6、性能。二是，對于雷擊引起的電磁脈沖，開路電壓和短路電流僅是同一現(xiàn)象的兩個不同方面，當試品在真實電磁脈沖環(huán)境中，設備阻抗發(fā)生變化，由高阻抗變?yōu)榈妥杩箷r，原來的沖擊電壓立即轉化成沖擊電流，亦即沖擊電壓和沖擊電流是一個事物的不同表現(xiàn)方式而已，相互之間會通過設備負載情況進行相互轉化。因此，在對電涌保護器進行測試時，認為混合波形能較好的反映低壓系統(tǒng)中雷電電磁脈沖的實際情況，當試品的阻抗在試驗過程中發(fā)生變化時，沖擊電壓和沖擊電流會自動轉換，能較好的

7、考核試品的性能。4、國際標準和國家標準以及行業(yè)標準對采如果不放電或波形嚴重畸變，說明開關型SPD存在問題。如果放電電壓很低，說明開關型SPD絕緣性能下降。根據對OBO的測量，一般1200＜U放電＜UpUp為產品所標明的電壓保護水平5.3.2對氧化鋅SPD直流參數的測量：用LD－2A測量壓敏電壓和漏電流（測量方法見說明書）測量結果的判斷：①當U1mA（壓敏電壓）低于交流電壓有效值U0的1.86～2.2倍，直流電路中MC－50B低于直流電壓