如何檢測(cè)硬盤(pán)內(nèi)部短路_第1頁(yè)
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1、Department:CSO附件一:PCBAEOSTESTMEASUREMENTNO:MF001ASTARDOPERATINGREV:APROCEDUREPAGE:1OF4DOCUMENTGENERATEDFROMECRCURRENTREVISIONSEAGATETECHNOLOGYCONFIDENTIAL(AllprintedcopiesareUNCONTROLLED)REVISIONIGINATDEIONOFCHANGESRevAK

2、eanPengLimNewreleasedDepartment:CSOPCBAEOSTESTMEASUREMENTNO:MF001ASTARDOPERATINGREV:APROCEDUREPAGE:1OF44.Measurethe12Vpointimpedancetestbyattachingthemillimeterprobepin(positive)toPCBA12Vpinpointnegativeprobetogroundscre

3、whole(RefertoFigureB).12V阻抗測(cè)試，用萬(wàn)用表的正極探針（紅色）接觸PCBA板12V針腳，負(fù)極接地或螺絲孔，如圖FigureB所示5.ReadtheimpedancereadingatmultimtertheOhmmeterreadingmustbegreaterequalto2000Ohm.Ohmreadingequallessthan2000arecategizedunderasshtcircuit讀取萬(wàn)用表數(shù)

4、值，阻值讀數(shù)一定要大于等于2KΩ。讀數(shù)小于2KΩ判定為短路D.Impedancetest(5V12V)MeasurementProcessFSataDriveSATA硬盤(pán)硬盤(pán)(5V12V)阻抗測(cè)試過(guò)程阻抗測(cè)試過(guò)程1.AdjustthemultimeterionswitchtoOhmreage將萬(wàn)用表調(diào)為歐姆檔2.PlugintheSATAconnectsetontodrivepcba(RefertofigureD).將SATA電源線插入

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