通用電子元件進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范

1、通用電子元件進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范通用電子元件進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范（一）（一）貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容電容電阻電阻電感電感)1.1.目的目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類(lèi)物料。2.2.適用范圍適用范圍適用于本公司所有貼片元件（電容電阻電感…）之檢驗(yàn)。3.3.抽樣計(jì)劃抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4.4.允收水準(zhǔn)允收水準(zhǔn)（AQLAQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0主要缺點(diǎn)(MA):0.4

2、次要缺點(diǎn)(MI):1.55.5.參考文件參考文件《LCR數(shù)字電橋操作指引》《數(shù)字萬(wàn)用表操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷屬性缺陷描述缺陷描述檢驗(yàn)方式檢驗(yàn)方式備注備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的PN及實(shí)物是否都正確任何有誤均不可接受。b.包裝必須采用防靜電包裝，否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同若不同不可接受；實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合若不吻合不可接受。目檢

3、點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受；b.來(lái)料品名錯(cuò)，或不同規(guī)格的混裝，均不可接受；c.本體變形，或有肉眼可見(jiàn)的龜裂等不可接受；d.元件封裝材料表面因封裝過(guò)程中留下的沙孔，其面積不超過(guò)0.5mm2且未露出基質(zhì)可接受；否則不可接受；e.Pin氧化生銹，或上錫不良，均不可接受；目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測(cè)量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測(cè)試儀數(shù)字萬(wàn)用表檢驗(yàn)時(shí)，必須佩帶靜電帶。二極管

4、類(lèi)型檢測(cè)方法LED選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測(cè)量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管選擇數(shù)字萬(wàn)用表的二極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1，而反向測(cè)量讀數(shù)需無(wú)窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。（三）（三）晶體類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范晶體類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范1.1.目的目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類(lèi)物料之依據(jù)。2.2.適用范圍適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3.3.抽樣計(jì)

5、劃抽樣計(jì)劃依MILSTD105E，LEVELII正常單次抽樣計(jì)劃；具體抽樣方式請(qǐng)參考《抽樣計(jì)劃》。4.4.允收水準(zhǔn)允收水準(zhǔn)（AQLAQL）嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR):0主要缺點(diǎn)(MA):0.4次要缺點(diǎn)(MI):1.55.5.參考文件參考文件《數(shù)字頻率計(jì)操作指引》檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷屬性缺陷描述缺陷描述檢驗(yàn)方式檢驗(yàn)方式備注備注包裝檢驗(yàn)MAa.根據(jù)來(lái)料送檢單核對(duì)外包裝或LABEL上的PN及實(shí)物是否都正確任何有誤均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa.

6、實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同若不同不可接受；b.實(shí)際來(lái)料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa.字體模糊不清，難以辨認(rèn)不可接受；b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起，不可接受；c.元件變形，或受損露出本體等不可接受；d.Pin生銹氧化、上錫不良，或斷Pin，均不可接受。目檢每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa.晶體不能起振不可接受；b.測(cè)量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測(cè)試工位

7、和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測(cè)方法電性檢測(cè)方法晶體晶體檢測(cè)方法32.768KHz16.934MHz25.000MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體再接通電源開(kāi)機(jī)在正常開(kāi)機(jī)后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi)，若不能開(kāi)機(jī)或測(cè)量值不在規(guī)格范圍內(nèi)，則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測(cè)晶體、CPU、內(nèi)存條等，再接通電源開(kāi)機(jī)，看能否正常開(kāi)機(jī)顯示；在正常開(kāi)機(jī)顯示后，用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測(cè)量晶體，看測(cè)量的頻