2019上海理工大學《現(xiàn)代材料分析方法》考試大綱

1、《現(xiàn)代材料分析方法》考研大綱《現(xiàn)代材料分析方法》考研大綱一、參考書目一、參考書目:王培銘、許乾慰主編“材料研究方法”（第三版），科學出版社二、基本要求、基本要求1.掌握各種材料表征設備的理論基礎、樣品處理方法、數(shù)據(jù)處理方法。2.掌握晶體學基礎知識，理解X光、電子束與晶體相互作用機制。3.掌握材料結構、形貌、成分分析的基本方法，掌握各種測試方法的應用范圍及優(yōu)勢。4.能綜合運用各種分析方法研究材料的結構及物理、化學性質，解決材料研究中的常見

2、案例。三、主要知識點主要知識點第一章第一章晶體學基礎知識：晶體學基礎知識：晶體幾何學基礎；空間點陣；倒易點陣及其在幾何學中的應用。第二章第二章X射線衍射：射線衍射：X射線的產(chǎn)生及特性；X射線與物質相互作用機制；布拉格方程及衍射方法；X射線衍射儀的基本結構及工作原理；粉末衍射定性分析；應力分析；謝樂公式；X射線衍射的應用；X射線衍射譜的標定及數(shù)據(jù)分析；物相分析的一般方法。第三章第三章電子顯微學：電子顯微學：光學顯微鏡與透射電鏡的異同；電子

3、與物質的相互作用；掃描電鏡和透射電鏡基本工作原理、儀器構造、樣品制備方法及應用范圍透射電鏡成像方法、明場像、暗場像；電子衍射原理、基本衍射公式、電子衍射花樣及標定方法。第四章第四章原子力顯微鏡：原子力顯微鏡：原子力顯微鏡工作原理、儀器構造及應用范圍；原子力顯微鏡工作模式。第五章第五章熱分析方法：熱分析方法：差熱分析、熱重分析儀的工作原理及在材料研究中的應用；熱重曲線、差熱曲線的數(shù)據(jù)分析。第六章第六章材料成分分析方法：材料成分分析方法：X

4、射線光電子能量譜（XPS）、俄歇電子能譜、X射線能量色散譜的工作原理及應用范圍；XPS分峰方法。第七章第七章光譜分析：光譜分析：物質與光的相互作用；紫外可見吸收光譜、拉曼光譜、紅外光譜的工作原理及其在材料研究中的作用。比爾定律、拉曼散射、拉曼紅外活性等相關重要概念?！冬F(xiàn)代材料分析方法》考研大綱《現(xiàn)代材料分析方法》考研大綱一、參考書目一、參考書目:王培銘、許乾慰主編“材料研究方法”（第三版），科學出版社二、基本要求、基本要求1.掌握各種材

5、料表征設備的理論基礎、樣品處理方法、數(shù)據(jù)處理方法。2.掌握晶體學基礎知識，理解X光、電子束與晶體相互作用機制。3.掌握材料結構、形貌、成分分析的基本方法，掌握各種測試方法的應用范圍及優(yōu)勢。4.能綜合運用各種分析方法研究材料的結構及物理、化學性質，解決材料研究中的常見案例。三、主要知識點主要知識點第一章第一章晶體學基礎知識：晶體學基礎知識：晶體幾何學基礎；空間點陣；倒易點陣及其在幾何學中的應用。第二章第二章X射線衍射：射線衍射：X射線的產(chǎn)

6、生及特性；X射線與物質相互作用機制；布拉格方程及衍射方法；X射線衍射儀的基本結構及工作原理；粉末衍射定性分析；應力分析；謝樂公式；X射線衍射的應用；X射線衍射譜的標定及數(shù)據(jù)分析；物相分析的一般方法。第三章第三章電子顯微學：電子顯微學：光學顯微鏡與透射電鏡的異同；電子與物質的相互作用；掃描電鏡和透射電鏡基本工作原理、儀器構造、樣品制備方法及應用范圍透射電鏡成像方法、明場像、暗場像；電子衍射原理、基本衍射公式、電子衍射花樣及標定方法。第四章

7、第四章原子力顯微鏡：原子力顯微鏡：原子力顯微鏡工作原理、儀器構造及應用范圍；原子力顯微鏡工作模式。第五章第五章熱分析方法：熱分析方法：差熱分析、熱重分析儀的工作原理及在材料研究中的應用；熱重曲線、差熱曲線的數(shù)據(jù)分析。第六章第六章材料成分分析方法：材料成分分析方法：X射線光電子能量譜（XPS）、俄歇電子能譜、X射線能量色散譜的工作原理及應用范圍；XPS分峰方法。第七章第七章光譜分析：光譜分析：物質與光的相互作用；紫外可見吸收光譜、拉曼光譜