2019長(zhǎng)春理工大學(xué)復(fù)試科目《光電檢測(cè)技術(shù)》考試大綱

1、《光電檢測(cè)技術(shù)》考試大綱《光電檢測(cè)技術(shù)》考試大綱一、課程性質(zhì)一、課程性質(zhì)專(zhuān)業(yè)基礎(chǔ)課。二、適用科學(xué)二、適用科學(xué)儀器科學(xué)與技術(shù)、光學(xué)工程(包括專(zhuān)業(yè)型碩士：儀器儀表工程、光學(xué)工程)。三、試卷結(jié)構(gòu)三、試卷結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)知識(shí)占60％，應(yīng)用能力占40％。四、參考書(shū)目四、參考書(shū)目教材：徐熙平、張寧編著，光電檢測(cè)技術(shù)及應(yīng)用，機(jī)械工業(yè)出版社，2016參考：雷玉堂主編，光電檢測(cè)技術(shù)，中國(guó)計(jì)量出版社，2009王慶有主編，光電傳感應(yīng)用技術(shù)，機(jī)械工業(yè)出版社，2011五

2、、考試內(nèi)容與基本要求五、考試內(nèi)容與基本要求第一章第一章緒論緒論[考試要求]光電檢測(cè)技術(shù)及特點(diǎn)、光電檢測(cè)系統(tǒng)的組成。[考試內(nèi)容]光電檢測(cè)技術(shù)、光電檢測(cè)系統(tǒng)的組成。第二章第二章光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)光電檢測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)[考試要求]輻射度量和光度量的基本概念，半導(dǎo)體的物理基礎(chǔ)，半導(dǎo)體對(duì)光的吸收，各類(lèi)光電效應(yīng)概念，光電器件的基本參數(shù)。[考試內(nèi)容]輻射度量和光度量的基本概念半導(dǎo)體物理基礎(chǔ)：半導(dǎo)體特性、能帶、半導(dǎo)體導(dǎo)電結(jié)構(gòu)、載流子的運(yùn)動(dòng)，PN結(jié)、半導(dǎo)體對(duì)光的

3、吸收；內(nèi)光電效應(yīng)：光電導(dǎo)效應(yīng)、光生伏特效應(yīng)；外光電效應(yīng)；光電器件常用的各種基本參數(shù)。第三章第三章光電檢測(cè)器件光電檢測(cè)器件[考試要求]光電導(dǎo)器件、光生伏特器件、光電發(fā)射器件、熱輻射探測(cè)器件、熱釋電器件、光電耦合器件和圖像傳感器件等各種光電傳感器的結(jié)構(gòu)、工作原理、特性參數(shù)和使用方法，關(guān)鍵參數(shù)計(jì)算等。[考試內(nèi)容]光電導(dǎo)器件：光敏電阻；光生伏特器件：光敏二極管、硅光電池、光敏晶體管、光電位置敏感器第七章第七章微弱信號(hào)檢測(cè)微弱信號(hào)檢測(cè)[考試要求]

4、相關(guān)函數(shù)及相關(guān)接收、相敏檢波的基本概念和原理，鎖相放大器、取樣積分器、光子計(jì)數(shù)器的原理、特點(diǎn)及應(yīng)用。[考試內(nèi)容]相關(guān)函數(shù)及相關(guān)接收、相敏檢波的基本概念和原理常用的微弱信號(hào)檢測(cè)的方法如鎖相放大器、取樣積分器、光子計(jì)數(shù)器，各種方法對(duì)應(yīng)的原理、特點(diǎn)及應(yīng)用。第八章第八章外形尺寸檢測(cè)外形尺寸檢測(cè)[考試要求]光電檢測(cè)技術(shù)在外形尺寸檢測(cè)方面的應(yīng)用。[考試內(nèi)容]模擬變換檢測(cè)法；光電掃描檢測(cè)法：光學(xué)掃描法、電掃描法；CCD自掃描檢測(cè)法；光電三維形貌檢測(cè)原

5、理、應(yīng)用及特點(diǎn)。第九章第九章位移量檢測(cè)位移量檢測(cè)[考試要求]光電檢測(cè)技術(shù)在位移量檢測(cè)方面的應(yīng)用、設(shè)計(jì)。[考試內(nèi)容]激光干涉位移檢測(cè)：激光干涉原理、激光干涉儀；光柵線位移檢測(cè)：光柵尺、光源和光強(qiáng)調(diào)制、前置放大器；光柵角位移檢測(cè)：編碼器、讀數(shù)和細(xì)分、狹縫及光電信號(hào)、編碼器誤差；軸向位移測(cè)量；光三角位移測(cè)量原理、特點(diǎn)及應(yīng)用；激光測(cè)距：脈沖法、相位法測(cè)量原理、精度設(shè)計(jì)。第十章第十章光電外觀檢測(cè)光電外觀檢測(cè)[考試要求]光電檢測(cè)技術(shù)在外觀檢測(cè)方面的