gb1772-1979

1、閱戶尸中華人民共和國國家標準電子元器件失效率試驗方法.................IIGB1772一79II【I~~.婦二側(cè)間州目4廠11111紅1.總則1.1本標準規(guī)定了有可靠性指標的電子元器件產(chǎn)品(以下簡稱產(chǎn)品)的定級、維持和升級試驗程序。1.2本標準適用于其壽命能合理地認為是服從指數(shù)分布，在本質(zhì)上是同一設(shè)計、建立了可靠性質(zhì)量管理和連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品。對于預(yù)期壽命能合理地認為是服從指數(shù)分布的單批產(chǎn)品的失效率試驗也可適用。1.3名詞解

2、釋:(1)失效率:本標準所規(guī)定的失效率，是指產(chǎn)品標準規(guī)定的額定條件下的失效率。(2)失效率試驗:為確定產(chǎn)品的失效率等級而進行的壽命試驗稱為失效率試驗。失效率試驗分為定級試驗、維持試驗、升級試驗三種。(3)定級試驗:為首次確定產(chǎn)品的失效率等級而作的試驗，或在某一失效率等級的維持和升級試臉失敗后，對產(chǎn)品重新確定其失效率等級而進行的試驗稱為定級試驗。(4)維持試驗:為證明產(chǎn)品的失效率等級仍不低于定級試驗或升級試驗后所確定的失效率等級進行的試臉

3、稱為維持試驗。(5)升級試驗:為證明產(chǎn)品的失效率等級比原定的失效率等級更高而進行的試驗稱為升級試驗。(6)置信度:指產(chǎn)品的真實失效率等于被定等級的最大失效率而被判定為不合格的概率。本標準中，定級試驗和升級試臉的置信度取60或90%維持試驗的置信度取10%02.失效率等級2.1失效率等級共分為七級，失效率的單位用1小時(或110次)，各級的名稱、失效率見表1。符號及最大表1名稱符號最大失效率(1小時或110次)亞五級五級六級七級八級九級十

4、級YWLQB1S3x10IX1011x1011x101x101x1011x10““2.2產(chǎn)品試驗合格后，應(yīng)將其失效率等級的符號明顯標志在產(chǎn)品或其包裝上。具體標志方法由產(chǎn)品標準明確規(guī)定。3.失效率試驗的一般要求3.1在有可靠性指標的產(chǎn)品標準中應(yīng)明確規(guī)定下列各點:(1)試驗內(nèi)容與試臉條件，國家標準總局發(fā)布1980年8月1日實施G日177278過其預(yù)期壽命的23。對于預(yù)期壽命較長的產(chǎn)品，延長試驗時間一般也不應(yīng)超過20000小時。表4測試時間允

5、許偏差:815:::一1一02一04一08一024一048一O表5，。，，。允許偏差0500100020005000100002000050000100000200000500000100000020000005000000100000002000000050000000100000000一一10%03.83.9失效數(shù)內(nèi)。繼續(xù)試驗。3.10按額定條件進行試驗時，其樣品數(shù)量一般不得少于10個。試驗中由于非產(chǎn)品本身的原因(如設(shè)備原因，人為原