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文檔簡介
1、鐵酸鉍(BiFeO3,BFO)由于同時具有室溫磁性和鐵電性,是一種較為理想的室溫單相多鐵材料,且其具有室溫下最大電極化強度,在諸多領(lǐng)域有著潛在的應用,近些年來受到人們廣泛關(guān)注。十余年來,對BFO基陶瓷、薄膜和納米結(jié)構(gòu)材料開展了廣泛的研究。由于BFO較大的漏電流特性,需要有效控制其缺陷才可以獲得較優(yōu)越的鐵電性和磁電耦合性能。前期報道表明在BFO薄膜中其缺陷能得到有效控制從而可以獲得優(yōu)越鐵電性能和磁電耦合性能;此外隨著電子器件微型化、輕量化
2、以及集成化的發(fā)展需要獲得滿足性能需求的BFO薄膜。
化學溶液沉積(Chemical Solution Deposition,CSD)法作為一類薄膜制備方法,具有成本低、前驅(qū)物原子級混合、適于在復雜形狀基片上成膜、可大規(guī)模制備大面積薄膜等優(yōu)勢。近些年,BFO薄膜CSD法研究方面取得了顯著進展,但采用CSD制備的BFO薄膜較物理法制備的薄膜而言性能較差,且通常為無取向的多晶薄膜,難以獲得性能較好的取向或者外延薄膜,從而限制了其實際
3、應用。
本論文采用CSD法在Si基片和LaAlO3(LAO)單晶基片上制備出高度擇優(yōu)取向以及外延的BFO薄膜,并對其取向生長機理及性能調(diào)控進行了系統(tǒng)研究。主要研究內(nèi)容如下:
1.BiFeO3(111)/Pt/Ti/SiO2/Si薄膜制備及性能研究。采用CSD法在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制備出了(111)擇優(yōu)取向BFO薄膜,研究了退火溫度對BFO薄膜的微結(jié)構(gòu)與性能的影響。結(jié)果表明,只有在原料為乙酸鹽,丙酸(PP
4、A)為溶劑,退火氣氛為N2的條件下才可獲得(111)取向的BFO薄膜。退火溫度在500-650℃范圍內(nèi),可以獲得鐵電性能較為良好的BFO薄膜。隨退火溫度升高,晶格常數(shù)與晶粒尺寸逐漸增大,氧空位增多,剩余極化強度增大,但漏電流與矯頑電場也逐漸增大。當退火溫度低于500℃時,所獲BFO薄膜無法晶化;而當退火溫度高于650℃時,BFO薄膜中Bi揮發(fā)嚴重,出現(xiàn)雜相。
2.BiFeO3(001)/LaNiO3/Si薄膜制備及性能研究。在
5、Si(001)基片上采用CSD法制備出(001)取向的LaNiO3(LNO)底電極,并在其上誘導生長出高度擇優(yōu)取向的BFO(001)薄膜。研究了退火溫度對BFO薄膜的微結(jié)構(gòu)與鐵電性能的影響。結(jié)果表明,BiFeO3薄膜生長最佳退火溫度范圍在500-600℃之間,隨退火溫度升高,BFO薄膜的剩余極化強度增加,而矯頑電場基本保持不變。當溫度高于600℃時,LNO與BFO在LNO/BFO界面處發(fā)生互擴散/反應,進而影響B(tài)FO薄膜的微結(jié)構(gòu)與鐵電性
6、,
3.外延BiFeO3薄膜制備及性能研究。在(001)、(110)和(111)晶向的LAO單晶基片上,采用CSD法沉積SrRuO3(SRO)薄膜作為底電極,再在SRO/LAO上采用CSD法制備出外 BFO薄膜。探討了BFO薄膜的外延生長機理及其鐵電性對取向的依賴關(guān)系結(jié)果表明,BFO薄膜受基片的晶格常數(shù)和取向的影響,薄膜沿基片異質(zhì)外延生長。BFO外延薄膜的鐵電性表現(xiàn)出各項異性,(111)取向的BFO薄膜剩余極化強度與矯頑電場最
7、大,而(001)取向的BFO薄膜介電常數(shù)最大。
4.Mn摻雜外延BiFeO3薄膜制備及性能研究。通過Mn摻雜,以達到改善BFO薄膜的磁性與鐵電性的目的。結(jié)果表明,隨著Mn摻雜濃度的增加,薄膜漏電流逐漸增大。同時其漏電導電機制發(fā)生變化,未摻Mn時,在低電場區(qū)域為歐姆導電行為,在高電場區(qū)域為界面限制的Fowler-Nordheim隧穿導電行為;而有Mn摻雜時,電極與薄膜之間的接觸為Schottky接觸,界面控制電荷注入,在界面處S
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