納米磁性薄膜微波磁譜測試方法研究.pdf

1、隨著科學技術的發(fā)展，磁性納米薄膜材料已經廣泛應用于高速電子工業(yè)的各個領域，而目前磁性薄膜材料的應用已進入微波頻段，如何在微波頻段準確測量材料的高頻電磁參數，在磁性薄膜的研究中顯得尤為重要。對磁性薄膜材料而言，復磁導率是表征材料電磁特性的重要參數，是決定磁性薄膜材料適用性的重要因素之一。因而在納米磁性薄膜材料研究中提出了對該類薄膜磁譜進行準確測量的迫切要求。
　　本文就磁性納米薄膜復磁導率的測試這一課題展開研究，通過對國內外薄膜材料

2、的測試方法進行比較分析，最終選用反射式短路微帶法對磁性納米薄膜的復磁導率進行測試?；趥鬏斁€理論推導了短路微帶線夾具測量磁性薄膜復磁導率的計算公式，同時提出了三步法的測量步驟。
　　利用電磁仿真軟件HFSS對短路微帶測試夾具進行了模擬仿真，仿真計算得到的薄膜材料的復磁導率與理論值基本一致，間接地驗證了測試方案的正確性和可行性。
　　基于VEE虛擬儀器開發(fā)平臺，完成了對薄膜復磁導率自動測試系統(tǒng)軟件的設計，實現(xiàn)了對測量數據的讀取