納米磁性薄膜微波磁譜測(cè)試方法研究.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，磁性納米薄膜材料已經(jīng)廣泛應(yīng)用于高速電子工業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域，而目前磁性薄膜材料的應(yīng)用已進(jìn)入微波頻段，如何在微波頻段準(zhǔn)確測(cè)量材料的高頻電磁參數(shù)，在磁性薄膜的研究中顯得尤為重要。對(duì)磁性薄膜材料而言，復(fù)磁導(dǎo)率是表征材料電磁特性的重要參數(shù)，是決定磁性薄膜材料適用性的重要因素之一。因而在納米磁性薄膜材料研究中提出了對(duì)該類薄膜磁譜進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量的迫切要求。
　　本文就磁性納米薄膜復(fù)磁導(dǎo)率的測(cè)試這一課題展開(kāi)研究，通過(guò)對(duì)國(guó)內(nèi)外薄膜材料

2、的測(cè)試方法進(jìn)行比較分析，最終選用反射式短路微帶法對(duì)磁性納米薄膜的復(fù)磁導(dǎo)率進(jìn)行測(cè)試。基于傳輸線理論推導(dǎo)了短路微帶線夾具測(cè)量磁性薄膜復(fù)磁導(dǎo)率的計(jì)算公式，同時(shí)提出了三步法的測(cè)量步驟。
　　利用電磁仿真軟件HFSS對(duì)短路微帶測(cè)試夾具進(jìn)行了模擬仿真，仿真計(jì)算得到的薄膜材料的復(fù)磁導(dǎo)率與理論值基本一致，間接地驗(yàn)證了測(cè)試方案的正確性和可行性。
　　基于VEE虛擬儀器開(kāi)發(fā)平臺(tái)，完成了對(duì)薄膜復(fù)磁導(dǎo)率自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的讀取