外文翻譯--tp347h奧氏體不銹鋼在550℃低循環(huán)疲勞下的動態(tài)應(yīng)變時效對應(yīng)變幅度的影響（譯文）

1、1中文 中文 5800 5800 字出處： 出處： International Journal of Fatigue, 2013, 56: 1-7TP347H 奧氏體不銹鋼在 550℃低循環(huán)疲勞下的動態(tài)應(yīng)變時效對應(yīng)變幅度的影響HongWei Zhou,YiZhu He,Mian Cui,YuWan Cen，JianQing JiangA.School of Materials Science and Engineering, Jiang

2、su Key Lab of Advanced Metallic Materials, Southeast University, Nanjing, 211189 Jiangshu, PR ChinaB.School of Materials Science and Engineering, Anhui Key Lab of Materials Science and Processing, Anhui University of Tec

3、hnology, Maanshan, 243002 Anhui, PR ChinaC.School of Mechanical Engineering, Anhui University of Technology, Maanshan, 243002 Anhui, PR ChinaArticle infoArticle history:Received 1 March 2013Received in revised form 4 Jul

4、y 2013Accepted 6 July 2013Available online 27 July 20133溫下，在交變應(yīng)力和單調(diào)拉伸載荷作用時，DSA 通常對應(yīng)激反應(yīng)，LCF 的發(fā)生，ASS 的微觀結(jié)構(gòu)[2]和[8]有顯著影響。據(jù)報道，在 LCF 負載下 DSA 機制與在拉伸載荷下的 DSA 機制一致[10]。DSA 表現(xiàn)形式為應(yīng)力-應(yīng)變曲線上鋸齒狀，環(huán)狀峰值應(yīng)力和軟化比率與溫度負相關(guān)[9]。盡管認為鋸齒狀突起是 DSA 的表現(xiàn)形

5、式之一，但最近的研究已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，對 316L（N）的循環(huán)加載，DSA 則發(fā)生在鋸齒狀之前[2]和[10] 。在 DSA 機制下，循環(huán)變形位錯的結(jié)構(gòu)和無 DSA 機制時不同，這是由于位錯和雜質(zhì)原子（如 C 或 N 在 250-450℃，鉻在 450-650℃）時的相互作用[2] ， [11]和[12]。與無 DSA 機制的晶粒相比，DSA 機制下的平面結(jié)構(gòu)能造成位錯結(jié)構(gòu)改變。一般來說，在 DSA 機制下可以觀察到兩種類型的平面結(jié)構(gòu)，即平面的

6、滑移帶[8],[9]，[13]和[14]和燈芯絨結(jié)構(gòu)，其中燈芯絨結(jié)構(gòu)已在 250-450℃的真空中投入研究[15]，并且最近有研究發(fā)現(xiàn)了 300℃空氣中循環(huán)載荷作用下的燈芯絨結(jié)構(gòu)[16]。在 250 至 450℃介質(zhì)溫度范圍內(nèi)，溶質(zhì)原子的鈴木氣團[11]和[16]，或 Snoek 氣團用短程順序（SRO）的特性限制了位錯的交叉滑移[17]，從而產(chǎn)生位錯結(jié)構(gòu)的多個平面特征。固溶 Cr 原子氣團在低氮 ASS 或 Cr-N SRO[13]和

7、[18]或高氮 316 ASS 中，在 500-650℃的溫度范圍內(nèi)能有效固定位錯，這造成位錯在特定平面滑移，表現(xiàn)為平面結(jié)構(gòu)。溶質(zhì)原子氣團可以有效固定位錯，從而獲得更高的固定位錯密度。由于溶質(zhì)的固定，LCF 期間，在平面滑移帶之間緩慢移動的位錯提高變形的不均勻程度。由于 DSA，微觀平面在主要應(yīng)激反應(yīng)階段和二次循環(huán)硬化的最后階段造成循環(huán)硬化。據(jù)報道，DSA 降低LCF 的壽命，這是由于 DSA 誘發(fā)循環(huán)硬化，從而加速裂紋產(chǎn)生和擴展[7]

8、，[9]和[14]。根據(jù)這些研究[7]，[9]和[14]，可以看出簡單的位錯結(jié)構(gòu)的發(fā)展就是平面結(jié)構(gòu)在晶粒有DSA 機制和無 DSA 機制下的發(fā)展。眾所周知，位錯的結(jié)構(gòu)依賴于 LCF 在 RT 下的應(yīng)變幅度[19] 。我們發(fā)現(xiàn)在循環(huán)應(yīng)力—應(yīng)變曲線中的位錯結(jié)構(gòu)：設(shè)在 ap ε （塑性應(yīng)變幅度<0.01％時）產(chǎn)生平面狀位錯，則不完整的脈狀結(jié)構(gòu)與持久滑移帶的 ap ε 在 0.01％和 0.1％之間，并且晶粒結(jié)構(gòu) ％ 0.1 εap? 。