原子層沉積技術(shù)制備氧化鋅納米薄膜及其性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、透明導(dǎo)電薄膜的發(fā)展是目前電子領(lǐng)域的一個(gè)熱點(diǎn)。傳統(tǒng)透明導(dǎo)電薄膜ITO來源稀少且易產(chǎn)生有毒煙霧,因此需要一種新型透明導(dǎo)電材料作為其替代品。ZnO是一種透明、導(dǎo)電、無毒、廉價(jià)的材料,且來源廣泛,因而成為了ITO的重點(diǎn)替代材料之一。原子層沉積技術(shù)(ALD)是近年發(fā)展起來的薄膜制備技術(shù),該技術(shù)制備的薄膜性能優(yōu)異、厚度可控且保型性好,在電子制造領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。本文利用自主研制的ALD設(shè)備制備ZnO薄膜,對其進(jìn)行工藝探索和測試分析。
 

2、 1、研究了ALD反應(yīng)中鋅源脈沖時(shí)間對ZnO薄膜生長及性能的影響。在0.1~2 s的脈沖時(shí)間內(nèi),薄膜生長速率隨脈沖時(shí)間的增加而增加,在2s以上逐漸趨于穩(wěn)定。而后研究了沉積溫度對 ZnO薄膜質(zhì)量的影響,隨著沉積溫度的升高,薄膜電導(dǎo)率增加到1.81×102/cm/Ω(150℃),整體的表面粗糙度也得到改善。
  2、研究了 ALD反應(yīng)中反應(yīng)溫度,脈沖清洗時(shí)間對 Al2O3薄膜沉積速率和薄膜性能的影響。通過提高生長的反應(yīng)溫度和延長清洗時(shí)

3、間,薄膜沉積速率有一定程度的下降,但薄膜更加致密,這可以使薄膜表面粗糙度,介電強(qiáng)度和絕緣性明顯改善。當(dāng)沉積溫度為150℃時(shí),介電強(qiáng)度達(dá)到9.2 MV/cm,同時(shí)實(shí)現(xiàn)薄膜的低缺陷和少雜質(zhì)。
  3、針對ZnO薄膜的性能缺陷和改進(jìn)難點(diǎn),采用多前驅(qū)體ALD技術(shù)進(jìn)行Al摻雜,并分析摻雜反應(yīng)的作用模式和摻雜濃度。通過控制鋁鋅循環(huán)比來調(diào)節(jié) AZO薄膜的Al摻雜濃度。在制備AZO薄膜時(shí),我們研究了不同Al原子摻雜率對AZO薄膜性能的影響,并對鋁

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