液晶空間光調(diào)制器相位特性測(cè)量.pdf

1、對(duì)于扭曲型液晶空間光調(diào)制器（TN-LCSLM)而言，其相位調(diào)制深度將受到液晶前后面偏振片放置角度的影響，因此在使用前必須對(duì)其相關(guān)參數(shù)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)量。論文以大恒公司透射式TN-LCSLM作為測(cè)量對(duì)象，確定其扭曲角、建立馬赫-曾德?tīng)柛缮嫦到y(tǒng)測(cè)量其相位調(diào)制深度，并在最大相位調(diào)制深度位置測(cè)量了相位及振幅調(diào)制特性。通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量結(jié)果證實(shí)，該SLM可實(shí)現(xiàn)調(diào)制深度約1.3λ的純相位調(diào)制。
　　目前針對(duì)零扭曲液晶空間光調(diào)制器（ZTN-LCSLM)的相

2、位調(diào)制特性測(cè)量方法有很多，但是存在不同的局限性，其中最大的問(wèn)題是測(cè)量過(guò)程易受環(huán)境振動(dòng)影響、求解過(guò)程繁瑣。論文利用ZTN-LCSLM的偏振分光原理，提出一種共光路干涉法來(lái)測(cè)量其相位調(diào)制特性曲線。入射的線偏振被LCSLM分為兩束正交線偏振光，它們沿相同光路傳播至渥拉斯頓棱鏡（W P)經(jīng) WP出射的兩光束產(chǎn)生橫向剪切，同時(shí)，WP也會(huì)在兩光束間引入傾斜調(diào)制；這樣當(dāng)兩光束再經(jīng)過(guò)檢偏器后便可產(chǎn)生載波干涉條紋。通過(guò)應(yīng)用傅里葉變換法可計(jì)算得到兩幀干涉條

3、紋之間的相對(duì)相移量，進(jìn)一步測(cè)量可得到LCSLM的整體相位調(diào)制特性。
　　LCSLM的生成（或擬合）像差與理論加載像差的一致程度，決定了器件的相位調(diào)制精度，也對(duì)器件應(yīng)用范圍具有重要影響，例如是否可以應(yīng)用于高精度光學(xué)衍射元件，如衍射透鏡。而目前針對(duì)生成像差的測(cè)量方法一般使用商業(yè)數(shù)字干涉儀，或自己建立干涉系統(tǒng)，由此帶來(lái)的缺陷使測(cè)量過(guò)程不便捷、測(cè)量結(jié)果不客觀并存在系統(tǒng)誤差，從而不便于進(jìn)行深入的科學(xué)研究。論文提出一種共光路干涉儀測(cè)量ZTN-