基于LIPP法的空間電荷測(cè)量系統(tǒng).pdf

1、在外部電場(chǎng)的作用下，介質(zhì)內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生空間電荷。在當(dāng)今直流電場(chǎng)作用下，作為常用的聚合物絕緣材料，絕緣材料內(nèi)部積聚空間電荷問題一直是研究的熱點(diǎn)。因?yàn)榭臻g電荷的積聚影響著材料的絕緣性能，包括擊穿性能。而且絕緣材料內(nèi)部存在的缺陷及陷阱問題，使得絕緣聚合物材料在直流電場(chǎng)作用下，會(huì)使得電荷在聚合物材料內(nèi)部聚集，從而造成局部場(chǎng)強(qiáng)的增高，破壞絕緣性能。而且絕緣材料內(nèi)部的空間電荷的注入，傳輸，消散等會(huì)對(duì)材料造成破壞，甚至?xí)斐山^緣材料壽命下降?；诩す庹T導(dǎo)

2、壓力波法(LIPP)方法測(cè)量信號(hào)強(qiáng)，信噪比高，測(cè)量不受溫度限制。所以本論文依據(jù)空間電荷研究的重要前提下開展的，本文所開展的研究工作包括:
　　搭建了一個(gè)LIPP法空間電荷測(cè)量系統(tǒng)，并對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的空間分辨率進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究。根據(jù)LIPP法原理設(shè)計(jì)并制作了一套絕緣材料空間電荷測(cè)試系統(tǒng)，包括:樣品室、電極系統(tǒng)、保護(hù)電路、信號(hào)采集單元及信號(hào)恢復(fù)軟件等。選擇金屬鋁和半導(dǎo)電材料作為靶材料，研究了鋁板厚度對(duì)實(shí)驗(yàn)的影響，并對(duì)鋁靶材和半導(dǎo)電靶材進(jìn)行對(duì)比