雙頻段射頻輻射抗干擾測(cè)試方法研究.pdf

1、如今，科技日新月益地發(fā)展給我們的生活帶來更多便利的同時(shí)，也給我們的生存環(huán)境中帶來了的越來越嚴(yán)重的電磁污染。電子產(chǎn)品的電磁兼容能力是保證電子產(chǎn)品之間能夠互不干擾地共存的關(guān)鍵，所以關(guān)于該領(lǐng)域的檢測(cè)也越來越受到國(guó)際上的重視。
　　現(xiàn)行的射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試方法是射頻功率放大器對(duì)測(cè)試頻率范圍內(nèi)的射頻信號(hào)逐個(gè)頻點(diǎn)依次進(jìn)行放大，通過天線發(fā)射干擾信號(hào)對(duì)被測(cè)樣品進(jìn)行檢測(cè)，該測(cè)試方法被包括國(guó)際電工委員會(huì)在內(nèi)的各國(guó)際機(jī)構(gòu)所認(rèn)可并廣泛的被運(yùn)用。但是

2、該測(cè)試方法冗長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間使得原本就相對(duì)供不應(yīng)求的測(cè)試場(chǎng)地資源顯得更加捉襟見肘，因此研究一種速度較快并且準(zhǔn)確的新測(cè)試方法是目前各大國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證體系及相關(guān)測(cè)試機(jī)構(gòu)單位正在著力研究的課題。
　　本文的研究課題擬在目前現(xiàn)有技術(shù)及設(shè)備的條件下，以提高測(cè)試速度為目的，保證測(cè)試準(zhǔn)確度為前提，建立一個(gè)新的、更高效率的射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試方法——雙頻段射頻輻射抗擾度測(cè)試法,通過對(duì)比兩種測(cè)試方法的結(jié)果，驗(yàn)證新的測(cè)試方法是否可靠、正確，為有關(guān)產(chǎn)品的