二探針法測量納米線電阻率的有限元研究.pdf

1、納米材料因其特殊的結(jié)構(gòu)，呈現(xiàn)出一系列優(yōu)異的力、熱、光、電、磁、聲、儲氫、吸波等性質(zhì)，具有廣闊而深遠(yuǎn)的應(yīng)用前景。因而對納米材料的電學(xué)性質(zhì)研究也成為當(dāng)前研究的一大熱點(diǎn)。在測量的過程中存在著許多影響結(jié)果可靠性的因素，主要包括電極的因素和樣品的因素。本論文針對在測量過程中存在的這些問題，利用有限元分析方法，主要從電極因素(如電極間距、電極厚度和電極電導(dǎo)阻率等)和樣品因素(如樣品的半徑和樣品的電阻率等)兩個方面，詳細(xì)分析了兩探針測量方法下電極和樣

2、品因素對一維納米材料的測量準(zhǔn)確度的影響。
　　 第二章，簡單介紹了有限元分析法，主要包括有限元分析方法的基本思想，基本構(gòu)成，有限元分析法計算的基本步驟和有限元分析法在電磁場中的應(yīng)用，以及ANSYS軟件的主要特點(diǎn)，軟件的基本構(gòu)架和軟件的主要功能等。
　　 第三章，從電極因素方面對測量準(zhǔn)確度的影響進(jìn)行考慮，主要包括改變電極間距，電極厚度和電極電阻率等。分析結(jié)果顯示電極厚度和電極的電阻率對測量基本沒有影響。電極間距對測量準(zhǔn)確度

3、有明顯的影響，隨著電極間距的增大，測量的誤差會減小。當(dāng)電極間距與樣品的直徑比小于15時，測量準(zhǔn)確度隨著電極間距的減小而急劇增大；當(dāng)電極間距與樣品直徑比值大于15時，其測量的結(jié)果比較精確，并且基本適用于各種類型的材料。
　　 第四章，從樣品因素方面對測量準(zhǔn)確度的影響進(jìn)行考慮，主要包括改變樣品的直徑、樣品的電阻率和接觸面積等。研究結(jié)果表明兩電極法在測量半導(dǎo)體樣品時具有較好的測量準(zhǔn)確度，而當(dāng)測量的樣品接近于金屬性時，增大電極間距才能獲