高性能鋰離子電池充放電保護(hù)芯片的設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、鋰離子電池以其體積小、重量輕、壽命長、儲能密度高、無記憶效應(yīng)及綠色環(huán)保等優(yōu)勢，從傳統(tǒng)的可充電電池中脫穎而出，成為電子行業(yè)中的首選移動電源。由于鋰離子電池的獨特性質(zhì)，為了提高其在使用過程中的安全性，并防止鋰離子電池特性劣化，需在鋰電池中集成一塊保護(hù)芯片，對鋰離子電池在充放電過程出現(xiàn)的各種狀態(tài)進(jìn)行實時監(jiān)測，并對鋰離子電池實施保護(hù)及控制。
　　本文在分析了保護(hù)芯片所需的基本保護(hù)功能后，采用全定制方式設(shè)計了一款高性能鋰離子電池充放電保護(hù)芯

2、片。所設(shè)計的芯片主要由基準(zhǔn)源、采樣電路、過溫保護(hù)電路、比較器以及分頻延時控制電路等組成。設(shè)計通過把充放電控制管MOSFET集成在芯片內(nèi)部提高了芯片集成度；在芯片內(nèi)部設(shè)計過溫保護(hù)電路和在電池上集成熱敏電阻，可以雙重保護(hù)電池和芯片使其免受高溫的損害；運用修調(diào)技術(shù)提升了整個電路的精度。最后對芯片系統(tǒng)的功能進(jìn)行仿真分析。
　　整個芯片的設(shè)計基于CSMC公司0.5um DPTM BCDMOS工藝。電路設(shè)計使用Candence仿真平臺驗證。該

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