中微子規(guī)范理論模型中的輕子數(shù)破壞過程研究.pdf

1、中微子有質(zhì)量是超出標(biāo)準(zhǔn)模型的新物理存在的證據(jù)之一，中微子的研究對超出標(biāo)準(zhǔn)模型的新物理有重要意義。最近，吳岳良提出的中微子規(guī)范理論能夠很好地解釋中微子質(zhì)量很小和中微子混合問題。該理論與seesaw機(jī)制相比較有很突出的優(yōu)點：
　　 1)利用SO(3)規(guī)范對稱很自然的引入Majorana中微子，而seesaw機(jī)制中的Majorana右手中微子是為了解釋中微子質(zhì)量而直接引入的；
　　 2)seesaw機(jī)制不能解釋中微子混合；

2、r>　　 3)除此之外這一模型還預(yù)言了帶電輕子數(shù)破壞過程。
　　 不同于一般的seesaw機(jī)制中Majorana中微子有很大的質(zhì)量(＞10-11GeV)，中微子規(guī)范理論模型中的一些新粒子的質(zhì)量比較小(例如Maiorana中微子Ni和SU(2)單重態(tài)矢量型帶電輕子Ei的質(zhì)量在100GeV到105GeV范圍之內(nèi)）。這使得中微子規(guī)范理論模型可能對低能輕子數(shù)破壞過程有較大貢獻(xiàn)。而輕子數(shù)破壞是稀有過程，分支比很小，因此有可能對模型的參數(shù)

3、有更強(qiáng)的限制。本文試圖通過輕子數(shù)破壞過程eI→eJγ和Z→eI+eJˉ的分析計算實現(xiàn)對中微子規(guī)范理論模型參數(shù)的進(jìn)一步限制。我們發(fā)現(xiàn)：
　　 1.eI→eJγ的分支比很明顯隨著SU(2)單態(tài)矢量型帶電輕子Ei質(zhì)量mE和Higgs波色子質(zhì)量mφ的增大而減小，這體現(xiàn)了退耦效應(yīng)；
　　 2.在mE與Z玻色子質(zhì)量相差不大時Z→eI+eJ-隨著mE的增大而增大，隨著mφ的增大有小幅度的減?。?br>　　 3.輕子數(shù)破壞過程對我們所