紅外探測(cè)器MTF的分析研究.pdf

1、紅外探測(cè)器是紅外系統(tǒng)、熱成像系統(tǒng)的核心組成部分，研究紅外探測(cè)器的成像性能是紅外物理和紅外技術(shù)發(fā)展的重要內(nèi)容。由于紅外探測(cè)技術(shù)的不斷發(fā)展，無論是軍用還是民用，對(duì)于探測(cè)器的性能要求是越來越高了。所以，對(duì)于探測(cè)器性能的理論分析就顯得很有意義。提高紅外探測(cè)器水平的關(guān)鍵在于研究紅外探測(cè)器的成像性能，并且發(fā)現(xiàn)影響這些性能的因素，進(jìn)而找到可行的解決方法。本文以紅外光電探測(cè)器為研究對(duì)象，通過理論推導(dǎo)，得到一系列參數(shù)因子，然后對(duì)數(shù)據(jù)圖像進(jìn)行了分析和討論，

2、從而得到了紅外探測(cè)器MTF的影響因素。
　　首先，本文介紹了光電成像系統(tǒng)MTF的基本概念、測(cè)試方法，以及點(diǎn)、線、邊緣三種擴(kuò)展函數(shù)與 MTF的變換關(guān)系。其次，介紹了CCD型紅外探測(cè)器的基本知識(shí)，CCD的分類，重點(diǎn)討論了線陣和面陣CCD的工作原理。第三，在半導(dǎo)體物理、器件物理、光電成像原理的基礎(chǔ)知識(shí)之上，通過Seib模型的理論，研究了載流子引起的MTF，計(jì)算載流子擴(kuò)散引起的MTF關(guān)系表達(dá)式。第四，對(duì)非本征型探測(cè)器模型運(yùn)用線擴(kuò)展函數(shù)理論