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文檔簡介
1、集成電路等電子設(shè)備中的傳導(dǎo)模式的電磁干擾(EMI)已成為當(dāng)前國際上的熱點問題之一,消除集成電路和晶體管等有源器件和系統(tǒng)中電磁干擾的最有效的辦法,是研制磁集成薄膜EMI濾波器。集成小型化的薄膜EMI濾波器的首要任務(wù)是把截止頻率fr提高到GHz頻段,并使磁性薄膜保持優(yōu)良的軟磁性能和高頻性能。
由于材料是器件的基礎(chǔ),所以軟磁薄膜的高性能、寬頻段和低損耗是集成磁芯器件獲得高性能的關(guān)鍵。針對應(yīng)用于GHz范圍的集成抗EMI濾波器,磁性薄膜
2、必須滿足高頻段的應(yīng)用需求,也就是說,其截止頻率fr必須達到GHz范圍,具有高的磁導(dǎo)率和低的損耗角正切tgδ。根據(jù)應(yīng)用需求的不同,磁性薄膜的電磁性能和高頻性能必須可調(diào)控?;趯洿疟∧っ鞔_的性能要求,本論文以CoNbZr軟磁薄膜為磁芯研究對象,優(yōu)化設(shè)計了共面波導(dǎo)(CPW),集成制作了GHz濾波器,可應(yīng)用于電磁干擾的抑制。
首先,采用射頻磁控濺射的方法在Si基片上沉積了CoNbZr軟磁薄膜,主要研究了濺射膜厚、濺射功率、濺射氣壓、
3、濺射傾斜角度等工藝參數(shù),對薄膜高頻性能和磁性能的影響。研究發(fā)現(xiàn),濺射功率為250W,濺射氣壓0.4Pa,薄膜厚度140nm時,薄膜性能最優(yōu)。其易軸矯頑力(Hce)為14Oe,面內(nèi)各向異性場(Hk)為98Oe,飽和磁化強度(4πMs)高達15.9KGs,自然共振頻率(fr)為3.5GHz,另外,傾斜角度的增大,可以夠提高薄膜的Hk和fr,但同時也會導(dǎo)致Hce的增加和磁導(dǎo)率的減小。同時分析了工藝參數(shù)對薄膜磁性能影響的微觀機理與物理機制。
4、r> 然后,采用高頻仿真軟件(HFSS)設(shè)計了共面波導(dǎo)(CPW)的尺寸,通過傳統(tǒng)電鍍工藝完成其制作。所得共面波導(dǎo),在300kHz~20GHz的測試范圍內(nèi),其傳輸損耗|S21|不超過0.4dB,滿足阻抗匹配條件。另外,仿真設(shè)計了CoNbZr薄膜與CPW集成的濾波器,通過在磁性薄膜平面內(nèi)施加一定角度的磁場,在10GHz-40GHz范圍內(nèi)可形成多頻點窄帶帶阻濾波器。
最后,采用微電子光刻技術(shù),制作了應(yīng)用于抗EMI的GHz磁芯集成濾
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