非球面檢驗用計算全息的關(guān)鍵技術(shù)及其應用研究.pdf

1、非球面在光學系統(tǒng)中發(fā)揮著不可替代的作用。高精度非球面測試決定了其加工技術(shù)的精度,對于非球面技術(shù)的發(fā)展十分重要。利用計算全息(Computer-generated Hologram,CGH)的零位補償干涉測試是一項公認的高精度測試技術(shù)。近些年來,高空間刻線頻率CGH用于非球面高精度檢驗的關(guān)鍵技術(shù)問題----CGH設(shè)計以及加工尚處在探索階段。
　　 本文利用標量衍射和矢量衍射理論,研究了影響CGH波面復現(xiàn)精度的因素;從全局優(yōu)化的角度

2、研究CGH的設(shè)計方法;結(jié)合現(xiàn)有條件,研究了熔融石英基底CGH加工工藝和精度驗證等諸多技術(shù)問題;以90°錐角圓錐面為例,研究高密度CGH用于錐面的絕對面形恢復和錐角誤差測量方法。具體主要研究內(nèi)容包括：分別從標量衍射理論模型及矢量衍射理論模型出發(fā),對CGH的簡單抽象即一維線性光柵模型展開了分析討論。在標量模型下,研究了CGH各個結(jié)構(gòu)參數(shù)(橫向二維圖形位置、臺階深度、臺階占空比)與其各級次出射波面衍射效率及相位之間的關(guān)系。同時,利用矢量分析軟

3、件對高頻光柵進行分析,結(jié)果顯示出射波前TE、TM偏振之間存在的相位差,同時也為標量衍射計算結(jié)果的校正提供了依據(jù)。針對CGH相位函數(shù)的全局優(yōu)化設(shè)計問題,提出了逆向光線追跡求解法及正向光線追跡優(yōu)化法相結(jié)合全局尋優(yōu)設(shè)計方法,實現(xiàn)了CGH相位函數(shù)的高精度快速求解。研究了抑制干擾信號的疊加載頻設(shè)計和兩種用于CGH定位裝調(diào)的方案,從仿真及實驗兩個方面證明了方案的實用性。針對國內(nèi)缺乏利用現(xiàn)有設(shè)備在熔融石英基底上制作高密度CGH元件的成熟工藝問題,探索

4、研究了零位補償測試用的三類CGH(振幅型CGH、純相位型CGH及簡易相位型CGH)的工藝技術(shù)。針對直角坐標系電子束直寫設(shè)備的特點,提出了適用于同軸型CGH直寫工藝的經(jīng)濟編碼方案,實現(xiàn)了大幅縮小直寫工作耗時和抑制CGH出射波面相位誤差的目的。利用光束干涉掃描型(Scanning Beam Interference Lithography,SBIL)極坐標系激光直寫系統(tǒng)(Circular Laser Writing System,CLWS)

5、,解決了高頻光柵CGH的加工難題。分別利用反應離子刻蝕(Reaetive Ion Etch,RIE)及電感耦合等離子體刻蝕(Inductively Coupled Plasma Etch,ICP)系統(tǒng),實現(xiàn)了在熔融石英基底上制作純相位型CGH的工藝技術(shù)。為了驗證CGH零位補償法的測試精度,以特殊二次非球面----拋物面為測試對象,用基于標準球面波的無像差點法測量結(jié)果,與CGH零位補償干涉法的結(jié)果比對。結(jié)果表明CGH波前重構(gòu)精度PV值優(yōu)于

6、λ/20、RMS值優(yōu)于λ/147。利用CGH的測試方案總體不確定度PV值優(yōu)于λ/15、RMS值優(yōu)于λ/113。通過與計量部門測量結(jié)果進行比對,證明PV值偏離不超過λ/100。針對錐面三維面形高精度測量難題,研究了利用高頻CGH測試線性圓錐面面形中的系列關(guān)鍵技術(shù)。提出了錯位四步法和雙邊螺旋路徑積分法(Spiral-path Direct Integration,SDI),實現(xiàn)了對待測錐面的高精度絕對面形恢復。同時,基于錐面像差多項式,提出