大功率白光LED老化機(jī)制及老化模型研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本學(xué)位論文主要研究了大功率白光LED的老化機(jī)制及壽命計算,為大功率白光LED能夠廣泛應(yīng)用并且早日取代傳統(tǒng)照明燈提供有益的實(shí)驗(yàn)依據(jù)和理論基礎(chǔ)。本文的主要內(nèi)容如下:
   1.首先根據(jù)大功率白光LED在電流加速實(shí)驗(yàn)中存在電流和熱兩種應(yīng)力,修正單應(yīng)力Eyring模型為廣義Eyring模型。理論擬合與實(shí)驗(yàn)結(jié)果基本一致,驗(yàn)證了廣義Eyring模型的正確性,由此依據(jù)廣義Eyring模型估算出額定電流下的壽命t。
   2.對大功率白

2、光LED采用電流加速實(shí)驗(yàn),觀察LED在不同老化電流下光通量隨老化時間變化的關(guān)系,得到LED的光通量前期呈現(xiàn)緩慢衰減。從芯片、環(huán)氧樹脂、熒光粉三方面分析造成大功率LED光衰原因,其主要原因是芯片的緩慢老化造成的。為了能夠更好研究芯片老化對LED光衰的影響,我們?nèi)サ鬖ED的散熱片,發(fā)現(xiàn)LED的光通量衰減有兩種過程:前期的緩慢衰減和后期的快速衰減,這兩種過程光衰都是由芯片老化造成的,并對這兩種衰減機(jī)制做出初步分析。
   3.根據(jù)自動

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