關于倒置開關可靠性的研究.pdf

1、本課題針對存儲測試技術對測試系統(tǒng)低功耗的要求，研制了微型脈沖供電式光電倒置開關，該微型開關是存儲測試系統(tǒng)電源控制的關鍵。在實際的存儲測試過程中，存在由于倒置開關對測試系統(tǒng)不能正常上電控制而使測試實驗失敗的例子，面臨測試實驗的高成本，提高開關可靠性是非常緊迫和必要的。
　　研究設計了一套開關可靠性的檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)能滿足可靠性考核試驗在高、低溫及常溫三種環(huán)境溫度條件下各進行1000次以上、每次持續(xù)時間一分鐘倒置試驗的要求，選用小功率

2、電機，帶動倒置開關模擬其工作過程，采集倒置開關的各種信號，并對其進行數(shù)據(jù)綜合分析。這種可靠性考核試驗方法，為倒置開關的驗收和進一步改良奠定了基礎，也為其他電子產(chǎn)品的可靠性研究提供一個新的思路。
　　本文主要闡述了以下幾個方面的問題：
　　首先，介紹了微型脈沖供電式光電倒置開關的研制背景和意義，闡述了設計過程及工作原理；詳細研究了開關的各組成模塊，包括其中的機械部分結構設計、光電元器件的選擇、軟件部分的設計；描述了這種開關的制

3、作步驟和需要注意的工藝問題；針對倒置開關不同信號的特點，提出檢測可靠性的總體方案和檢測系統(tǒng)的功能要求及性能指標。
　　其次，提出和論證了一種新的可靠性試驗研究的思路，研究了檢測系統(tǒng)的機械結構設計、硬件和軟件設計及實現(xiàn)，詳細介紹了不同信號的采樣策略、數(shù)據(jù)存儲方式、工作狀態(tài)設計和具體的檢測電路；同時研究了計算機軟面板，重點介紹了其中的測試數(shù)據(jù)綜合分析功能。
　　最后，對微型脈沖供電式光電倒置開關進行了不同溫度環(huán)境下的人工性能測試