多通道時間交織模數(shù)轉換器的校正與集成電路實現(xiàn)方法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、高性能模數(shù)轉換器(ADC)廣泛應用于通信、計算機、儀表控制等領域,具有重要的戰(zhàn)略意義。經過學術界與工業(yè)界長期的研究,各種結構的ADC都日趨成熟,從速度和精度兩方面不斷逼近已有實現(xiàn)條件下的性能極限。
  在此背景下,多通道ADC并行的時間交織結構成為突破單一結構ADC速度瓶頸的一個必然方向。然而,通道之間存在的失調、增益和帶寬的失配,以及采樣時刻的偏差,嚴重制約著多通道時間交織ADC的精度。特別是對于采樣時刻偏差,已有的各種校正方法

2、或者無法真正提高性能,或者不能擴展到更多通道,或者只能針對一定條件(低頻有限帶寬或單頻正弦)的輸入信號情況。
  本論文提出了一種基于LMS-FIR自適應濾波及內插的時間交織ADC數(shù)字后臺校正方法,可以同時校正子通道間的采樣時刻偏差以及增益和帶寬失配,消除這些非理想因素對ADC整體性能的制約。通過參考通道采樣內插值與待校正子通道ADC采樣值的相關運算結果,可以獲得正確的待校正子通道ADC采樣期望值,進而得到準確的校正結果。通過自適

3、應地控制LMS的迭代更新,使得這一時間交織ADC校正方法可以應用在所有情況下,而避免可能的誤收斂。
  相對已有校正方法,本方法的有效輸入信號范圍涵蓋并拓展了其他各種方法的輸入條件,并可擴展到任意通道數(shù)的時間交織ADC系統(tǒng),具有適應范圍更廣,擴展能力更強的優(yōu)點。
  為了驗證此校正方法的有效性,本論文采用0.18-μm CMOS集成電路工藝,實現(xiàn)了一款14-Bit,200-MSps的2通道時間交織ADC芯片。在集成電路實現(xiàn)中

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