量子阱紅外探測(cè)器性能參數(shù)測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、量子阱紅外探測(cè)器（QWIP，Quantum Well Infrared Photo-detector）在響應(yīng)速度、均勻性、抗輻照、多色集成和加工成本等方面的明顯優(yōu)勢(shì)，成為近年來(lái)紅外探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域關(guān)注的熱點(diǎn)，其測(cè)試技術(shù)也得到了飛速發(fā)展。 本文主要研究了QWIP性能參數(shù)測(cè)試技術(shù)及測(cè)量方法。首先簡(jiǎn)要地介紹了量子阱材料的發(fā)展歷史和基本工作原理，分析了表征QWIP的性能參數(shù)。在此基礎(chǔ)上提出了測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案，運(yùn)用基于相關(guān)檢測(cè)技術(shù)原理使用鎖相

2、放大器測(cè)量了黑體電壓響應(yīng)率和光譜響應(yīng)率，提高了從背景噪聲中提取有用信號(hào)的能力。并提出了光譜響應(yīng)率測(cè)量方案的改進(jìn)方法，前置放大電路的設(shè)計(jì)思想以及電路的低噪聲處理方法。 QWIP參數(shù)測(cè)量程序采用LabVIEW編寫(xiě)。程序由初始化、黑體電壓響應(yīng)率、光譜響應(yīng)率以及退出四個(gè)模塊組成。在程序設(shè)計(jì)中，實(shí)現(xiàn)了對(duì)鎖相放大器（Lock in Amplifier）SR830的控制，使得測(cè)試過(guò)程更加簡(jiǎn)潔、便利。測(cè)試系統(tǒng)需要測(cè)量的參數(shù)較多，而且某一測(cè)試結(jié)