單光子探測(cè)器后脈沖概率的測(cè)量開(kāi)題報(bào)告

1、<p>　　畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）開(kāi)題報(bào)告</p><p><b>　　注：不夠可加頁(yè)。</b></p><p>　　本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）開(kāi)題報(bào)告</p><p>　　本科畢業(yè)論文（設(shè)計(jì)）開(kāi)題報(bào)告</p><p>　姓 名學(xué) 號(hào)所在專業(yè)光信息科學(xué)與技術(shù)</p><p>　論文（設(shè)計(jì)）題目單

2、光子探測(cè)器后脈沖概率測(cè)量實(shí)驗(yàn)及結(jié)果的理論分析</p><p>　選題的目的和意義：近年來(lái)，隨著量子信息學(xué)科的發(fā)展，單光子探測(cè)器（SPCM）在量子保密通訊[1-3]、分子熒光壽命測(cè)量[4, 5]、單光子源制備[6-8]等弱光探測(cè)領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。相比于傳統(tǒng)的模擬信號(hào)測(cè)量方法，單光子探測(cè)器對(duì)于工作電壓及環(huán)境溫度的微小變化的變化不敏感，具有更高的穩(wěn)定性和信噪比。但是單光子探測(cè)器在沒(méi)有光子入射時(shí)，仍然會(huì)產(chǎn)生一定數(shù)量

3、的計(jì)數(shù)，嚴(yán)重影響著其在光子計(jì)數(shù)測(cè)量，尤其是量子保密通訊中的應(yīng)用。噪聲主要有兩類：一類是由于熱噪聲和隧穿效應(yīng)引起的暗計(jì)數(shù)；另一類是由于俘獲載流子的再釋放引起的后脈沖。暗計(jì)數(shù)率基本上與入射光強(qiáng)無(wú)關(guān)，而后脈沖的強(qiáng)度則隨著入射光強(qiáng)的增大而增大。在計(jì)數(shù)率相對(duì)較大的實(shí)驗(yàn)中，如量子保密通訊中，暗計(jì)數(shù)對(duì)于測(cè)量的影響變得很微弱，如何減小后脈沖的影響就變得尤其重要。通常采用的方法為門控模式測(cè)量，即在光子到達(dá)的時(shí)才使單光子探測(cè)器的工作電壓高于雪崩電壓。為了設(shè)

4、置合適的門控脈沖寬度，勢(shì)必要求我們對(duì)于后脈沖的強(qiáng)度及時(shí)域分布進(jìn)行深入了解。隨著量子信息學(xué)科的發(fā)展，單光子探測(cè)器（SPCM）的地位越來(lái)越基礎(chǔ)而重要,精確性要求也越來(lái)越高,所以對(duì)如何減小噪聲的后脈沖的這項(xiàng)研究也就</p><p>　文獻(xiàn)綜述（國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀、研究方向、進(jìn)展情況、存在問(wèn)題等，并列出10篇以上所查閱的國(guó)內(nèi)外參考文獻(xiàn)，要求3000字以上）：近年來(lái)，隨著量子信息學(xué)科的發(fā)展，單光子探測(cè)技術(shù)在高分辨率的光譜測(cè)量、

5、非破壞性物質(zhì)分析、高速現(xiàn)象檢測(cè)、精密分析、大氣測(cè)污、生物發(fā)光、放射探測(cè)、高能物理、天文測(cè)光、光時(shí)域反射、量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)等領(lǐng)域有 著廣泛的應(yīng)用。由于單光子探測(cè)器在高技術(shù)領(lǐng)域的重要地位，它已經(jīng)成為各發(fā)達(dá)國(guó)家光電子學(xué)界重點(diǎn)研究的課題之一。相比于傳統(tǒng)的模擬信號(hào)測(cè)量方法，單光子探測(cè)器對(duì)于工作電壓及環(huán)境溫度的微小變化的變化不敏感，具有更高的穩(wěn)定性和信噪比。1939年，Allen就使用光電倍增管測(cè)量到了單個(gè)光子[9]。Roch小組使用單光子探測(cè)器測(cè)