晶圓測試信息管理系統(tǒng)流程改造實施研究.pdf

1、專業(yè)學位碩士學位論文晶圓測試信息管理系統(tǒng)流程改造實施研究WaferTestingInformationManagementSystemProcessReformImplementationResearchofDUT學號：31111205完成日期：201536大連理工大學DalianUniversityofTechnology大連理工大學專業(yè)學位碩士學位論文摘要集成電路產(chǎn)業(yè)在經(jīng)濟發(fā)展中一直受到優(yōu)先支持，而自2013年以來國家層面醞釀的扶持

2、集成電路產(chǎn)業(yè)政策也在2014年落地，明確了支撐經(jīng)濟社會發(fā)展和保障國家安全的戰(zhàn)略性基礎(chǔ)性。而但由歷史性的和結(jié)構(gòu)性的原因，我國的集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展雖然在過去15年中取得了顯著的進步，在和其他一些先進國家和地區(qū)的產(chǎn)業(yè)競爭中還是面對極大的壓力?！?】屬于集成電路產(chǎn)業(yè)后段的晶圓測試代工業(yè)，作為相對進入門檻較低，相對更容易快速形成規(guī)模的后端產(chǎn)業(yè)鏈，對于產(chǎn)業(yè)發(fā)展具有極為重要的意義和指標性，也成為了最容易取得產(chǎn)業(yè)突破的一環(huán)。在發(fā)展晶圓測試產(chǎn)業(yè)過程中，我們

3、發(fā)現(xiàn)怎樣收集過濾選擇更有效率更有用的信息到服務對象手上，以便客戶能更快速準確的斟酌分析優(yōu)中選優(yōu)，決定最終策略，這成為晶圓測試代工服務中越來越重要，越來越被認可的一個首選優(yōu)勢。本研究通過對案例測試企業(yè)管理信息系統(tǒng)現(xiàn)狀的分析，探討在信息管理系統(tǒng)流程改造中應用相關(guān)PFID理論和半導體業(yè)內(nèi)實際應用案例；詳細分析研究企業(yè)導入基于RFD建立的“晶圓測試即時共享信息系統(tǒng)”中，供應鏈的信息管理、精確庫存管理、晶圓測試數(shù)據(jù)技術(shù)參數(shù)管理三大管理模塊的可行性

4、分析和實際系統(tǒng)搭建執(zhí)行。并基于系統(tǒng)實施的效益分析，驗證晶圓測試把RFID引進生產(chǎn)應用的可執(zhí)行性，再有機的結(jié)合“RFID技術(shù)”與“信息系統(tǒng)”，減少單位測試及處理時間、增進測試及處理和協(xié)作效率，切實掌控在制產(chǎn)品的價值流、改進測試及處理相關(guān)流程的實時控制和分析、完備的晶圓測試及相關(guān)處理信息提供，最終對系統(tǒng)實施對于企業(yè)經(jīng)營管理帶來的效益和幫助進行總結(jié)。并做出對未來繼續(xù)改善和發(fā)展方向的建議，以此為未來繼續(xù)改善的基礎(chǔ)并為產(chǎn)業(yè)界其他企業(yè)參考。關(guān)鍵詞：