基于紅外焦平面陣列測試的超低噪聲直流偏置技術研究.pdf

1、近年來，隨著紅外焦平面陣列(IRFPA)技術的發(fā)展，紅外技術與系統(tǒng)在軍事和日常生產及生活等許多領域用途日益廣泛。在這種環(huán)境背景下，研制紅外焦平面陣列探測器測試系統(tǒng)是十分必要的，系統(tǒng)的關鍵技術之一就是直流偏置源的實現，而國內外一直未能在此關鍵技術上有實質性的突破。本文現圍繞系統(tǒng)中直接供給探測器偏置電壓的直流偏置源展開研究工作。
　　 本文主要從以下方面開展了研究工作：
　　 1.對紅外焦平面陣列的概念、原理做了清晰的介紹，

2、并且闡述了紅外焦平面的技術和發(fā)展現狀，以及國內外在紅外焦平面陣列測試技術上的研究水平和差距。
　　 2.詳細介紹了紅外焦平面陣列的主要性能參數，以及紅外焦平面陣列測試系統(tǒng)的測試總體需求及總體結構，提出了直流偏置關鍵技術。
　　 3.詳細分析了直流偏置指標對于紅外焦平面測試系統(tǒng)影響的理論分析。通過對一般電子系統(tǒng)中噪聲及焦平面陣列探測器噪聲的介紹，并結合實際工作中的測試環(huán)境及要求提出了直流偏置源的主要性能指標。從整體上對直流