半導體照明光源的加速壽命試驗與壽命評估.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著發(fā)光二極管（Light Emitting Diode，LED）在信息顯示和半導體照明光源等領域得到越來越廣泛的應用，其可靠性的重要性也日益凸顯。但現有 LED可靠性研究成果大都集中在某單一LED模塊的失效分析方面，或應用常規(guī)加速壽命試驗對LED的可靠性進行預測分析。由于LED壽命長、更新換代快，且壽命試驗成本高、周期長，因此，快速精準地評估其可靠性，對指導LED光源系統(tǒng)的早期失效篩選和系統(tǒng)可靠性試驗驗證均具有重要意義。
　　論

2、文從試驗系統(tǒng)設計和試驗數據處理兩個方面，對LED光源系統(tǒng)的加速壽命試驗進行研究。首先在分析LED光源壽命影響因素的基礎上，選擇溫度和電應力作為該加速退化試驗的試驗應力，并確定測試參數、失效判據及試驗應力范圍。其次，提出了一種基于加速性能退化的LED光源的可靠性評估方法，包括：確定不同應力水平的退化軌跡方程；根據給定的光通量失效閾值，推算每組應力條件下試驗樣品的偽失效壽命并估計最佳分布模型；構建溫度、電應力加速模型，外推正常使用條件下LE

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