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文檔簡介
1、超聲相控陣檢測技術(UPA)是一種先進的超聲無損檢測技術,通過對陣列換能器中各陣元進行相位控制,獲得靈活可控的合成波束,并可動態(tài)控制聚焦點的位置,具有動態(tài)聚焦、電子掃查等特性,可提高檢測靈敏度、分辨力和信噪比等。相控陣檢測技術已經成為無損檢測領域的研究熱點,全數(shù)字相控陣系統(tǒng)更是未來的方向。
由于FPGA的高集成度和強大的可編程邏輯功能,逐漸成為數(shù)字式相控陣系統(tǒng)搭建的主流方向。本研究基于 FPGA對超聲相控陣檢測系統(tǒng)進行了研究,
2、主要研究內容是相控高精度發(fā)射問題,數(shù)字信號接收問題和數(shù)字信號傳輸高速化問題。
首先,對發(fā)射精度進行了理論分析,要使系統(tǒng)分辨率提高,延時控制的精度就必須要增加,選擇了CPLD和高壓數(shù)字脈沖發(fā)生器MAX4940來提高延時精度。對動態(tài)聚焦、動態(tài)可變孔徑、動態(tài)變跡和數(shù)字聲束形成等多種相控接收技術進行了理論分析,因為數(shù)字聲束合成的穩(wěn)定性較好,精度較高,可以提高合成質量,選擇了數(shù)字聲束形成技術構成接收系統(tǒng),又因 FPGA內部利用并行處理技
3、術與流水線技術可以比較容易地實現(xiàn)多聲束合成,選擇 FPGA作為相控接收的主控制器并使用PCIE接口提高數(shù)據吞吐率。
接著,對超聲相控陣檢測系統(tǒng)的組成及關鍵模塊進行了設計,發(fā)射單元采用多個獨立的壓電晶片組成陣列,由上位機軟件設置的時序經由 CPLD控制激發(fā)各個晶片,控制發(fā)射聲束的焦點位置和掃查方向;接收模塊由 SPI接口控制各個芯片功能,信號經電壓隔離,放大,濾波處理并轉換為LVDS信號進入FPGA。通過FPGA控制數(shù)據經PCI
4、E接口流入上位機,上位機對最后的數(shù)據進行處理分析。
然后,對各個部分進行了仿真和實測:實測了電源的實際電壓,驗證了發(fā)射時序的仿真,實測了發(fā)射部分的脈沖發(fā)射,驗證了基于 FPGA接收部分 SPI接口的仿真,實測了接收部分放大、濾波等功能,實測了PCIE接口的高速傳輸。
實驗驗證:發(fā)射部分最窄的脈寬可達到25ns,延時精度達130 ns,最高可以支持主頻為20MHz的換能器,發(fā)射電壓可達300V。接收處理部分,以80MS
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