復(fù)雜機(jī)電裝備電磁干擾(EMI)現(xiàn)場測試技術(shù)研究.pdf

1、隨著復(fù)雜機(jī)電裝備中電子電氣器件的集成度越來越高，電磁兼容(EMC)問題日益突出，已經(jīng)成為制約我國大型機(jī)電裝備出口的一個技術(shù)壁壘。為解決這一問題，EMC測試方面的研究越來越受重視。EMI標(biāo)準(zhǔn)測試需在規(guī)定場地進(jìn)行，但由于開闊場(OATS)難以尋覓，電波暗室造價(jià)高昂、尺寸有限等因素，許多復(fù)雜裝備無法進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)測試，只能在制造或者安裝現(xiàn)場進(jìn)行評估。本文以復(fù)雜機(jī)電裝備的EMI現(xiàn)場測試為研究對象，重點(diǎn)研究復(fù)雜機(jī)電裝備現(xiàn)場測試方案與環(huán)境噪聲剔除算法，并

2、在工業(yè)現(xiàn)場進(jìn)行測試驗(yàn)證。
　　本文首先對電磁兼容測試的分類及原理進(jìn)行了簡要介紹，總結(jié)了現(xiàn)場測試的研究現(xiàn)狀，分析了復(fù)雜機(jī)電裝備現(xiàn)場測試的特點(diǎn)及存在問題，提出了測試方案，根據(jù)現(xiàn)場測試的設(shè)備要求，構(gòu)建了測試系統(tǒng)。
　　接著，分析了現(xiàn)場測試中環(huán)境噪聲的來源及特點(diǎn)，找出傳統(tǒng)差分法的不足，利用幅偏與頻偏處理技術(shù)對環(huán)境噪聲信號進(jìn)行處理，再進(jìn)行相應(yīng)的差分計(jì)算與差值補(bǔ)償，設(shè)計(jì)了整個算法，并將計(jì)算結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)暗室測試結(jié)果進(jìn)行了對比驗(yàn)證，還與現(xiàn)有差

3、分法的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行了對比。結(jié)果表明，該算法能有效剔除環(huán)境常駐窄帶信號，計(jì)算結(jié)果比現(xiàn)有差分法更接近實(shí)際值。
　　然后，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，并結(jié)合復(fù)雜機(jī)電裝備現(xiàn)場測試特點(diǎn)，對現(xiàn)場測試中輻射騷擾測試與傳導(dǎo)騷擾測試的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行了仔細(xì)推算，確定了合理的測試參數(shù)。
　　最后，利用構(gòu)建的測試系統(tǒng)，在工業(yè)環(huán)境下，對兩種有代表性的復(fù)雜機(jī)電裝備進(jìn)行了EMI測試，得出了相關(guān)測試結(jié)論，分析了存在的問題，并利用干擾源查找設(shè)備找到了干擾產(chǎn)生原因，提出了對應(yīng)