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1、隨著電子器件向高頻、高速、密集化和小型化的方向發(fā)展,其散熱問題得到了廣泛關(guān)注。由于微尺度液膜的相變過程伴隨著大量熱量的吸收或釋放,因此其在解決電子器件的散熱問題上具有巨大的應(yīng)用前景。微熱管是以微尺度通道內(nèi)液體相變?yōu)楣ぷ髟淼膫鳠崞骷?,具有很高的傳熱效率,因此?duì)微熱管內(nèi)工質(zhì)的相變傳熱特性研究具有重要意義。由于對(duì)微熱管內(nèi)液體相變傳熱起主要作用的液膜厚度在納米級(jí),而分子動(dòng)力學(xué)方法(MD)能夠得到原子級(jí)別的結(jié)構(gòu)特征,尤其適合納米尺度的研究,因此
2、本文采用分子動(dòng)力學(xué)方法展開研究,使用的計(jì)算軟件是LAMMPS。
首先,本文采用三種常用水模型(SPC、SPC/E、TIP4P)對(duì)微尺度水液膜的密度及熱導(dǎo)率值進(jìn)行計(jì)算,并與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和文獻(xiàn)模擬值對(duì)比,選取出了最符合實(shí)際情況的水模型—TIP4P。并采用該模型對(duì)水的基本性質(zhì)及相變現(xiàn)象進(jìn)行了模擬,得出的結(jié)論與文獻(xiàn)模擬結(jié)論一致,進(jìn)一步驗(yàn)證了模擬方法和選取模型的準(zhǔn)確性。
其次,研究了微尺度下系統(tǒng)溫度和液膜厚度對(duì)液體相變蒸發(fā)率的影響
3、。模擬了液膜厚度為2nm時(shí),溫度(375 K-425 K)對(duì)相變蒸發(fā)率的影響;并模擬了溫度400 K時(shí),液膜厚度(2 nm、3nm、4nm)對(duì)相變蒸發(fā)率的影響。結(jié)果表明:1)蒸發(fā)率隨時(shí)間呈指數(shù)遞減;2)相同厚度下,蒸發(fā)率隨著溫度的升高而增大;3)同溫度下,蒸發(fā)率隨著液膜厚度的增加而增加。
最后,對(duì)微尺度通道內(nèi)氬液膜的相變傳熱特性進(jìn)行了研究。模擬了等寬通道情況下,通道高度(23 nm、32nm、42 nm、52 nm)和液膜厚度
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