小型機箱屏蔽效能測試技術(shù)研究.pdf

1、本文依據(jù)IEEE STD299.1-2013使用嵌套混波室測試小型機箱屏蔽效能的方法，對IEEE STD299.1-2013標準中未能明確的某些方面進行研究。
　　使用嵌套混波室測試小型機箱屏蔽效能的方法已經(jīng)成為主流的測試方法。由于混波室以及小型機箱內(nèi)部的電磁場為統(tǒng)計性均勻場，故在測試小型機箱屏蔽效能的時候，機箱內(nèi)部的電磁場會影響屏蔽效能測試結(jié)果，本文分析了頻率攪拌方法以及聯(lián)合攪拌方法測試小型機箱屏蔽效能的重復性問題，以及研究了混

2、波室法測試小型機箱的置信區(qū)間和不確定度。實驗發(fā)現(xiàn)，在攪拌帶寬為100MHz時，使用聯(lián)合攪拌的采樣次數(shù)至少為3次，才能夠使得測試的置信區(qū)間小于3 dB。
　　除此之外，小型機箱內(nèi)部接收天線為單極子天線，針對單極子天線阻抗匹配不良好的情況，利用小型寬頻帶的微帶天線測試小型機箱的屏蔽效能，實驗發(fā)現(xiàn)，使用單極子天線測試小型機箱屏蔽效能的結(jié)果與使用小型寬帶微帶天線測試機箱的屏蔽效能的結(jié)果相一致，說明單極子天線較大的反射系數(shù)對測試小型機箱屏蔽

3、效能沒有影響;同時，提出使用網(wǎng)絡分析儀的時域功能測試小型機箱的屏蔽效能，利用時域法測試小型機箱屏蔽效能驗證嵌套混波室測試小型機箱屏蔽效能的準確性，也提供測試非均勻場分布機箱屏蔽效能的一種方法。
　　不僅如此，為了討論腔體壁面對機箱屏蔽效能測試的影響，本文從理論上推導了機箱內(nèi)部靠近機箱金屬壁面的接收天線所接收到的功率，通過實驗，比較了接收天線距離壁面較近時所測機箱屏蔽效能與理論計算結(jié)果之間的關(guān)系，當在單極子與腔體壁面的距離為0.15