小型機(jī)箱屏蔽效能測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、本文依據(jù)IEEE STD299.1-2013使用嵌套混波室測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能的方法，對(duì)IEEE STD299.1-2013標(biāo)準(zhǔn)中未能明確的某些方面進(jìn)行研究。
　　使用嵌套混波室測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能的方法已經(jīng)成為主流的測(cè)試方法。由于混波室以及小型機(jī)箱內(nèi)部的電磁場(chǎng)為統(tǒng)計(jì)性均勻場(chǎng)，故在測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能的時(shí)候，機(jī)箱內(nèi)部的電磁場(chǎng)會(huì)影響屏蔽效能測(cè)試結(jié)果，本文分析了頻率攪拌方法以及聯(lián)合攪拌方法測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能的重復(fù)性問題，以及研究了混

2、波室法測(cè)試小型機(jī)箱的置信區(qū)間和不確定度。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，在攪拌帶寬為100MHz時(shí)，使用聯(lián)合攪拌的采樣次數(shù)至少為3次，才能夠使得測(cè)試的置信區(qū)間小于3 dB。
　　除此之外，小型機(jī)箱內(nèi)部接收天線為單極子天線，針對(duì)單極子天線阻抗匹配不良好的情況，利用小型寬頻帶的微帶天線測(cè)試小型機(jī)箱的屏蔽效能，實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，使用單極子天線測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能的結(jié)果與使用小型寬帶微帶天線測(cè)試機(jī)箱的屏蔽效能的結(jié)果相一致，說明單極子天線較大的反射系數(shù)對(duì)測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽

3、效能沒有影響;同時(shí)，提出使用網(wǎng)絡(luò)分析儀的時(shí)域功能測(cè)試小型機(jī)箱的屏蔽效能，利用時(shí)域法測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能驗(yàn)證嵌套混波室測(cè)試小型機(jī)箱屏蔽效能的準(zhǔn)確性，也提供測(cè)試非均勻場(chǎng)分布機(jī)箱屏蔽效能的一種方法。
　　不僅如此，為了討論腔體壁面對(duì)機(jī)箱屏蔽效能測(cè)試的影響，本文從理論上推導(dǎo)了機(jī)箱內(nèi)部靠近機(jī)箱金屬壁面的接收天線所接收到的功率，通過實(shí)驗(yàn)，比較了接收天線距離壁面較近時(shí)所測(cè)機(jī)箱屏蔽效能與理論計(jì)算結(jié)果之間的關(guān)系，當(dāng)在單極子與腔體壁面的距離為0.15