模擬IC測試系統(tǒng)上位機(jī)界面及數(shù)字化儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、集成電路(Integrated Circuit,IC)產(chǎn)業(yè)包括設(shè)計(jì)、制造及測試,其中IC測試在集成電路產(chǎn)業(yè)中起著決定性作用。IC測試系統(tǒng)作為IC測試的關(guān)鍵技術(shù),主要用于測量 IC的電氣參數(shù),以確保芯片良好。因此,研制高性能的 IC測試系統(tǒng)對整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展具有重要意義。
　　論文從 IC測試技術(shù)的發(fā)展入手,介紹了 IC測試系統(tǒng)的國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀。基于模塊化的設(shè)計(jì)原則,研究了IC測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)和硬件架構(gòu)。在整個(gè)系統(tǒng)的硬件架構(gòu)

2、中,重點(diǎn)研究了數(shù)字化儀(DIG)功能模塊的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),主要內(nèi)容如下:
　　1、介紹了IC測試技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r和IC測試系統(tǒng)在國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀,并闡述了課題來源與意義。
　　2、根據(jù)IC測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)指標(biāo),研究與設(shè)計(jì)了IC測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)和硬件架構(gòu),詳細(xì)闡述了硬件架構(gòu)各個(gè)功能模塊的設(shè)計(jì)原理和實(shí)現(xiàn)方案。
　　3、重點(diǎn)研究與實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化儀(DIG)硬件電路設(shè)計(jì)。詳細(xì)闡述了硬件電路中差分接收電路、抗混疊濾波電路、可編程增益放大

3、器電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、FPGA配置電路等模塊,并完成各個(gè)模塊的調(diào)試工作,分析誤差源并實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)。
　　4、完成數(shù)字化儀的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),包括測試函數(shù)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)和硬件電路驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),在VC++6.0中完成測試驅(qū)動(dòng)函數(shù)的設(shè)計(jì)。在Xilinx FPGA平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)硬件電路中邏輯代碼設(shè)計(jì),主要包括FIFO、SDRAM、ADC和DAC控制器的邏輯驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)。
　　5、完成了IC測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)——圖形用戶界面(Graphic User Interf