面向模擬IC測試的高精度數(shù)字化儀的設(shè)計與實現(xiàn).pdf

1、集成電路（Integrated Circuit，IC）產(chǎn)業(yè)在國民經(jīng)濟和社會發(fā)展中扮演著重要的作用，其中集成電路測試是集成電路生產(chǎn)流程中必不可少的步驟，隨著半導(dǎo)體制造工藝的發(fā)展和集成電路功能日益復(fù)雜化，與之相應(yīng)，對集成電路自動測試設(shè)備也提出了更高的要求，以滿足驗證和測試的新需求。數(shù)字化儀是模擬集成電路測試系統(tǒng)/混合信號集成電路測試系統(tǒng)的核心部件之一，它實現(xiàn)模擬芯片輸出信號的數(shù)字化過程，驗證芯片是否滿足設(shè)計要求和實際應(yīng)用。
　　本文面

2、向模擬集成電路測試的特定應(yīng)用，闡述了數(shù)字化儀的在集成電路測試中的特殊要求，在研究數(shù)字化儀工作原理的基礎(chǔ)上，首先構(gòu)建了多通道數(shù)字化儀的軟硬件架構(gòu)，然后完成了面向模擬集成電路測試的高性能數(shù)字化儀的設(shè)計和實現(xiàn)；并采用軟硬件協(xié)同校準方法，提高數(shù)字化儀的測試精度，主要內(nèi)容包括：
　　1、介紹了集成電路自動測試設(shè)備(Automatic Test Equipment，ATE)的發(fā)展歷程及應(yīng)用現(xiàn)狀，并對模擬 IC自動測試系統(tǒng)的典型架構(gòu)和各模塊的功

3、能進行說明，最后闡述了本課題的研究意義和價值。
　　2、根據(jù)模擬集成電路測試的實際要求，重點分析和討論了數(shù)字化儀的設(shè)計原理、軟硬件架構(gòu)和實現(xiàn)方案。
　　3、完成面向模擬IC測試的數(shù)字化儀的硬件部分的設(shè)計和實現(xiàn)，并對其中的信號的輸入方式、增益調(diào)整、差分驅(qū)動和校準等關(guān)鍵模塊進行了詳細的闡述；最后就數(shù)字化儀PCB設(shè)計中需要注意的地方提幾點建議。
　　4、完成FPGA控制邏輯主要模塊的開發(fā)，對數(shù)字化儀關(guān)鍵模塊和系統(tǒng)進行了調(diào)試，