基于遺傳算法的超聲稀疏陣列成像方法研究.pdf

1、隨著人們對于無損檢測技術(shù)的重視程度以及對于成像質(zhì)量要求的不斷提高，全聚焦超聲成像技術(shù)以其高分辨率、高對比度的特點在超聲無損檢測及評估領(lǐng)域受到了很大的關(guān)注，是近年來極具發(fā)展?jié)摿Φ某上窦夹g(shù)之一。然而這一成像方法需要采集和處理龐大的數(shù)據(jù)量，同時消耗大量的時間，較低的成像效率限制了其在工業(yè)實時檢測與成像中的廣泛應(yīng)用。為了提高全聚焦成像技術(shù)的實現(xiàn)效率，同時最大程度地保證超聲檢測性能和成像質(zhì)量，本文將陣列稀疏化方法應(yīng)用于全聚焦超聲成像技術(shù)中，并利用

2、遺傳算法對稀疏陣列的檢測性能進(jìn)行了優(yōu)化研究。
　　首先建立了全聚焦超聲成像算法的數(shù)學(xué)模型，基于有效孔徑理論研究了陣列稀疏化的實現(xiàn)方法，通過FieldⅡ軟件仿真和標(biāo)準(zhǔn)缺陷檢測實驗分別進(jìn)行了不同稀疏率陣列的檢測成像，在稀疏率為0.25時提高了成像效率41.7％，驗證了該方法的可行性和有效性。
　　然后根據(jù)稀疏陣列優(yōu)化的特點設(shè)計了遺傳算法的編碼方式、目標(biāo)函數(shù)以及交叉變異算子等，成功地應(yīng)用遺傳算法對稀疏線陣的檢測性能進(jìn)行了優(yōu)化，優(yōu)化