微測(cè)輻射熱計(jì)光學(xué)熱學(xué)和電學(xué)參數(shù)測(cè)試技術(shù)的研究.pdf

1、非制冷紅外焦平面探測(cè)器已經(jīng)越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，在如今紅外探測(cè)器高速發(fā)展的時(shí)代，紅外探測(cè)器的性能受到了越來(lái)越多地關(guān)注，建立一個(gè)完整的紅外探測(cè)器性能測(cè)試平臺(tái)的需要也越來(lái)越迫切。微測(cè)輻射熱計(jì)作為紅外探測(cè)器的重要組成部分，它的測(cè)試一方面可以為微測(cè)輻射熱計(jì)器件設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證，另一方面可以為探測(cè)器的讀出電路的設(shè)計(jì)提供指導(dǎo)。
　　本課題是對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)的光學(xué)、熱學(xué)和電學(xué)參數(shù)的測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了研究。首先對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)的工作原理和各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行了

2、理論上的分析和推導(dǎo)，在對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)的參數(shù)建立理論模型的基礎(chǔ)上，對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)的各項(xiàng)參數(shù)例如響應(yīng)、噪聲、熱導(dǎo)、響應(yīng)時(shí)間等提出了不同的測(cè)試方法，并且對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)樣品進(jìn)行了測(cè)試。
　　針對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)的光電參數(shù)，提出了一種應(yīng)用鎖相放大技術(shù)和光學(xué)斬波技術(shù)的測(cè)試方法來(lái)測(cè)試微測(cè)輻射熱計(jì)的響應(yīng)，該方法能夠?qū)ξ⑷醯捻憫?yīng)信號(hào)進(jìn)行提取，提高了測(cè)試的能力和精度；而對(duì)噪聲的測(cè)試使用了一種兩級(jí)放大然后分析功率譜密度的方法，對(duì)噪聲信號(hào)進(jìn)行放大后再對(duì)頻域進(jìn)

3、行分析，降低了周圍環(huán)境和系統(tǒng)噪聲對(duì)測(cè)試的影響；最后提出了一種利用標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器標(biāo)定對(duì)微測(cè)輻射熱計(jì)的相對(duì)光譜進(jìn)行測(cè)試的方法。
　　微測(cè)輻射熱計(jì)的熱學(xué)參數(shù)中，電阻溫度系數(shù)利用恒溫箱調(diào)節(jié)微測(cè)輻射熱計(jì)的溫度，再測(cè)試對(duì)應(yīng)溫度下的電阻，可以利用該數(shù)據(jù)得到微測(cè)輻射熱計(jì)的電阻和溫度關(guān)系。使用的是I-V法對(duì)熱導(dǎo)進(jìn)行測(cè)試，利用電流的焦耳效應(yīng)得到產(chǎn)生的熱量，而利用電阻可以得到微測(cè)輻射熱計(jì)的溫度，計(jì)算出熱導(dǎo)。對(duì)響應(yīng)時(shí)間提出了一種利用響應(yīng)隨頻率的變化關(guān)系計(jì)算的