應(yīng)用積分電導(dǎo)率評估絕緣子污穢程度方法研究.pdf

1、隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，工業(yè)、生活污染也在不斷加劇，近期國內(nèi)各地多發(fā)生霧霾天氣。在這種環(huán)境下，絕緣子易發(fā)生污閃事故，這對電力系統(tǒng)的安全運(yùn)行造成了巨大的危害。為了減少污閃事故，電網(wǎng)工作人員開展了大量的防污閃工作，如對絕緣子表面污穢度進(jìn)行測量與評估，判斷是否會發(fā)生污閃。國內(nèi)外學(xué)者進(jìn)行大量的研究發(fā)現(xiàn)，除了常用的等值鹽密和泄漏電流外，污層積分電導(dǎo)率也是一個非常好的表征絕緣子污穢程度的特征量，本文主要對應(yīng)用積分電導(dǎo)率評估絕緣子污穢程度的方法進(jìn)行了研究，這

2、對于防污閃工作具有重要的工程意義。
　　本文以XP-70、XP-160、LXY-70、LXY4-160和XWP2-70五種典型懸式單片絕緣子為研究對象，在冷霧環(huán)境下進(jìn)行了絕緣子污層飽和濕潤時間和積分電導(dǎo)率測量試驗(yàn)研究。主要分析了瓷和玻璃絕緣子在污層濕潤過程中鹽密、灰密和絕緣子型式結(jié)構(gòu)對飽和濕潤時間的影響以及鹽密、污穢成分和絕緣子型式對積分電導(dǎo)率值的影響，通過分析得到了以下結(jié)論：
　?、俳^緣子染污程度對飽和濕潤時間有較大影響：

3、隨著鹽密不斷增大，流過絕緣子表面的泄漏電流幅值增長較快，而飽和濕潤時間只是略有增加；當(dāng)灰密不斷增加時，飽和濕潤時間變長，泄漏電流的幅值也有所增加，但增幅較小。
　?、诓煌褪浇Y(jié)構(gòu)的絕緣子飽和濕潤時間相差較大，形狀結(jié)構(gòu)越復(fù)雜，棱槽越深的絕緣子，飽和濕潤時間越長。XP-70絕緣子的濕潤過程最快，達(dá)到飽和濕潤的時間最短，且泄漏電流幅值最大；LXY4-160型玻璃絕緣子污層飽和濕潤時間最長與XWP2-70型瓷絕緣子的濕潤時間較接近，但其泄

4、漏電流的幅值略大。
　　③絕緣子的染污程度和污穢成分對積分電導(dǎo)率有較大影響。當(dāng)灰鹽比固定為1:6時，隨著鹽密的不斷增大，絕緣子污層積分電導(dǎo)率值不斷增大，而閃絡(luò)電壓值不斷下降；當(dāng)鹽密、灰密固定時，隨著可溶物中NaCl比例的減小和CaSO4比例的增大，污層積分電導(dǎo)率的值在不斷減小，閃絡(luò)電壓不斷提高；絕緣子的形狀結(jié)構(gòu)對積分電導(dǎo)率值沒有影響。
　?、軕?yīng)用最小二乘法對試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行回歸分析，得到了積分電導(dǎo)率與鹽密間的回歸方程：0.881