基于ARM的模擬電路多參數(shù)測量.pdf

1、目前對模擬電路而言，研究者們大都關(guān)注于它在實際電路中的應(yīng)用，而對模擬電路自身參數(shù)的研究卻比較少。但是模擬電路的自身參數(shù)在實際應(yīng)用中也很重要。現(xiàn)在對模擬電路參數(shù)的分析和測量主要有硬件和軟件兩種方法。硬件測量方法基本是采用如掃頻儀等的電子設(shè)備對模擬電路進行測量。而軟件測量方法主要是采用仿真軟件或虛擬儀器對模擬電路進行測量。
　　由于現(xiàn)有的電子儀器大都比較復(fù)雜和昂貴，應(yīng)用并不方便；而現(xiàn)有的仿真軟件首先是元件庫不完整，還有就是虛擬元件和實

2、際元件畢竟存在著誤差，所以經(jīng)過分析后本論文提出了基于ARM的模擬電路多參數(shù)測量方法。并且完成和做出了對應(yīng)的測量系統(tǒng)。本系統(tǒng)使用 STM32系列的ARM芯片作為控制部分，通過軟、硬件結(jié)合的方法，實現(xiàn)了對模擬電路多參數(shù)的測量。
　　本文主要工作概括如下：
　　(1)介紹了模擬電路參數(shù)測量的發(fā)展現(xiàn)狀、研究背景和研究意義。對現(xiàn)有的測量方法進行了總結(jié)，并將這些方法與本系統(tǒng)的方法做了相應(yīng)的對比分析。
　　(2)實現(xiàn)了ARM的整體設(shè)

3、計，包括控制DDS信號源產(chǎn)生信號、對信號的采集、對數(shù)據(jù)的處理和計算、控制液晶顯示測試結(jié)果等。介紹了所用的信號源AD9854的工作原理和它與ARM之間的連接以及控制流程。
　　(3)硬件檢測電路的設(shè)計與實現(xiàn)是本文的重點，檢測電路主要包括阻抗/電壓轉(zhuǎn)換電路、頻率特性測量電路、乘法器電路和濾波電路等部分。阻抗/電壓轉(zhuǎn)換電路和頻率特性測量電路實現(xiàn)對模擬電路信號的提取，乘法器電路實現(xiàn)對信號的加工，濾波電路實現(xiàn)對信號的處理。
　　(4)