小型斷路器通斷過程觸頭電氣磨損研究.pdf

1、觸頭是小型斷路器的執(zhí)行部件，觸頭間電壓電流波是其運(yùn)行性能及保護(hù)特性最直接反映。在斷路器分?jǐn)噙^程中，觸頭承載的電壓電流都會(huì)動(dòng)態(tài)改變，不僅能反映觸頭的動(dòng)力學(xué)行為，還能反映燃弧現(xiàn)象及觸頭磨損。因此，研究小型斷路器觸頭電性能的測(cè)試技術(shù)，有助于研究斷路器觸頭的機(jī)電磨損和斷路器的性能退化，具有非常重要的意義。本文主要研究小型斷路器觸頭電性能測(cè)試技術(shù)，進(jìn)而研究觸頭電氣磨損的度量方法。
　　首先，對(duì)小型斷路器觸頭電性能測(cè)試系統(tǒng)的硬件部分進(jìn)行研究。

2、硬件系統(tǒng)主要包括模擬負(fù)載控制電路、數(shù)據(jù)采集電路以及電壓電流檢測(cè)電路。模擬負(fù)載控制電路采用交流固態(tài)繼電器作為高速開關(guān)器件，以快速通斷多路模擬負(fù)載以便產(chǎn)生所需電流；電壓電流檢測(cè)電路由傳感器件及濾波電路構(gòu)成；數(shù)據(jù)采集電路選用研華PCI-1742U數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行高速采樣，以DMA方式進(jìn)行數(shù)據(jù)高速傳輸。
　　其次，對(duì)小型斷路器觸頭電性能測(cè)試系統(tǒng)的軟件部分進(jìn)行研究。軟件系統(tǒng)采用虛擬儀器LabVIEW進(jìn)行設(shè)計(jì)，主要包括模擬負(fù)載控制程序、數(shù)據(jù)采集

3、程序以及數(shù)據(jù)處理(顯示、存儲(chǔ))程序。在模擬負(fù)載控制程序通過對(duì)PCI-1750I/O口的操作來(lái)控制固態(tài)繼電器的通斷，從而使觸頭負(fù)載回路產(chǎn)生所需試驗(yàn)電流；在數(shù)據(jù)采集與處理程序中采用生產(chǎn)者—消費(fèi)者結(jié)構(gòu)模式使得數(shù)據(jù)的采集與處理可以同步進(jìn)行；由于試驗(yàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)量大且采樣速度快，采用TDMS數(shù)據(jù)流格式來(lái)保存相關(guān)數(shù)據(jù)。
　　最后，通過實(shí)測(cè)記錄小型斷路器通斷過程觸頭電流電壓波形，分析小型斷路器的分?jǐn)嗵匦?，推?dǎo)計(jì)算出延遲時(shí)間、燃弧時(shí)間和燃弧能量，隨著