憶阻器測試方法及其觸發(fā)器應(yīng)用研究.pdf

1、憶阻器是繼電阻、電感、電容之外的第四種基本元器件，它的問世震驚了國際電子技術(shù)界。憶阻器是具有記憶功能的新型非線性電阻，其阻值能隨電荷流經(jīng)的方向和數(shù)量發(fā)生相應(yīng)變化，從而記憶住每時(shí)每刻流經(jīng)的電荷量。當(dāng)不再有電荷流經(jīng)時(shí)，阻值能保持不變。因此，憶阻器作為具有非線性動態(tài)阻變特性、高速、低功耗、高集成度、存儲與計(jì)算融合功能的新型電子器件，研究其測試表征方法以及在觸發(fā)器電路方面的應(yīng)用對豐富現(xiàn)有電路、信息存儲與邏輯計(jì)算及其融合、類腦功能器件等領(lǐng)域具有重

2、大的意義。
　　本文首先從憶阻器直流特性、交流特性與脈沖特性出發(fā)，重點(diǎn)研究了憶阻器性能表征手段和器件測試方法，并搭建了憶阻器電學(xué)特性測試系統(tǒng)，包括常規(guī)測試系統(tǒng)和高速測試系統(tǒng)。設(shè)計(jì)高速接口電路板，搭建憶阻器高速測試裝置并設(shè)計(jì)其控制程序，解決憶阻器高速測試中的信號完整性問題，保證高速皮秒信號的可靠傳輸與施加。同時(shí)，按照本研究的測試方法和通過所搭建的測試系統(tǒng)對基于硫系化合物憶阻器件的性能進(jìn)行了測試分析。測試結(jié)果驗(yàn)證了上述憶阻器測試方法的