基于VHDL-AMS的運(yùn)算放大器和DC-DC的仿真建模及驗(yàn)證分析.pdf

1、隨著電子產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,IC器件的性能越來(lái)越受到關(guān)注。分析IC器件隨溫度、濕度、氣壓、輻照、光照等外界環(huán)境劑量變化下所表現(xiàn)出的功能、性能上的變化是驗(yàn)證系統(tǒng)是否合格的重要方法。傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法是將大批量IC器件實(shí)體投入到具體環(huán)境當(dāng)中進(jìn)行檢驗(yàn),這種方法直觀、簡(jiǎn)單,但是耗時(shí)長(zhǎng),操作復(fù)雜,代價(jià)較大。
　　本文從仿真軟件角度提出了一種評(píng)估IC器件在特定環(huán)境因素下性能的建模仿真方法。首先從運(yùn)算放大器和兩種DC-DC開(kāi)關(guān)變換器入手,從理論角度分析

2、了運(yùn)算放大器、Buck變換器和Boost變換器的工作原理、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、重要性能參數(shù),給出了運(yùn)算放大器和兩種DC-DC開(kāi)關(guān)變換器的重要參數(shù)的驗(yàn)證方法。然后根據(jù)其原理及拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),在Systemvision環(huán)境下運(yùn)用VHDL-AMS語(yǔ)言建立了運(yùn)算放大器和兩種DC-DC變換器模型,并且對(duì)建立的運(yùn)算放大器模型加入外部環(huán)境參數(shù),使其可以仿真IC器件在受外部環(huán)境因素變化影響時(shí)的實(shí)際性能。
　　通過(guò)在Systemvision下對(duì)運(yùn)放模型和兩種DC-