雙目面陣CCD高溫比色測(cè)溫算法研究與系統(tǒng)實(shí)現(xiàn).pdf

1、一些要求苛刻的高溫測(cè)量場(chǎng)合，一方面，要求測(cè)溫精度不受被測(cè)物表面發(fā)射率未知和測(cè)量路徑中復(fù)雜介質(zhì)的影響;另一方面，要求能獲得被測(cè)物的整個(gè)溫場(chǎng)，以避免被測(cè)物局部氧化引起粗大誤差。單點(diǎn)比色測(cè)溫儀和單目面陣式輻射測(cè)溫儀因其不能同時(shí)滿(mǎn)足以上兩點(diǎn)要求，導(dǎo)致其應(yīng)用有很大局限性。為了同時(shí)滿(mǎn)足以上兩點(diǎn)要求，本文提出了一種雙目面陣CCD高溫比色測(cè)溫算法及其實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)。
　　本論文基于比色測(cè)溫理論，在分析面陣CCD光電響應(yīng)特性的基礎(chǔ)上，建立雙目面陣CCD比

2、色測(cè)溫模型，得到表征兩CCD像素點(diǎn)的灰度比值和被測(cè)物對(duì)應(yīng)面元溫度關(guān)系的比色測(cè)溫公式。為驗(yàn)證該公式，本文設(shè)計(jì)了基于DM643的測(cè)溫系統(tǒng)，具體有以下內(nèi)容:
　　1)CCD圖像采集電路設(shè)計(jì)和雙波長(zhǎng)選取。采用ICX424AL為圖像傳感器，AD9995作為時(shí)序驅(qū)動(dòng)和模擬前端，輸出RAW圖像;綜合考慮CCD響應(yīng)區(qū)間、鑄坯輻射范圍以及大氣窗口，本文選取的雙色波長(zhǎng)為0.82μm和0.93μm。
　　2)DM643核心板硬件設(shè)計(jì)。DM643核

3、心板設(shè)計(jì)了外部擴(kuò)展存儲(chǔ)器(SDRAM、FLASH)、EMAC收發(fā)控制器電路以及DM643的內(nèi)核和I/O供電電源。
　　3)DM643核心板控制軟件設(shè)計(jì)。系統(tǒng)的控制軟件設(shè)計(jì)主要分為三大功能模塊:CCD圖像采集模塊、DM643核心板模塊和Windows應(yīng)用程序模塊。其中CCD圖像采集模塊的核心是AD9995的時(shí)序配置; DM643核心板模塊實(shí)現(xiàn)了雙路12位RAW圖像采集以及以太網(wǎng)傳輸;Windows應(yīng)用程序模塊可顯示和處理系統(tǒng)采集的圖