基于反卷積的方位超分辨研究.pdf

1、雷達(dá)目標(biāo)識(shí)別技術(shù)是現(xiàn)代雷達(dá)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要方面，目標(biāo)識(shí)別需要雷達(dá)具有較高的分辨力，隨著距離分辨力的快速提高，為避免方位分辨力和距離分辨力的不匹配，方位分辨力的提高也成為必須。合成孔徑技術(shù)和多普勒波束銳化技術(shù)因系統(tǒng)問題存在固有的前視成像盲區(qū)，一般實(shí)孔徑雷達(dá)的方位分辨力受天線波束寬度的限制，從硬件上很難有所突破，從對(duì)接收回波信號(hào)的信號(hào)處理的角度解決這一問題越來越重要。
　　雷達(dá)方位超分辨技術(shù)主要是指在不改變雷達(dá)系統(tǒng)硬件的前提下，從方

2、位向上分辨處于同一波束內(nèi)的幾個(gè)等距目標(biāo)的技術(shù)，本文從信號(hào)處理的角度，研究采用波束銳化來提高雷達(dá)的方位向分辨力的算法，同時(shí)研究影響雷達(dá)方位分辨力的一些因素，實(shí)現(xiàn)高分辨力目標(biāo)識(shí)別。主要內(nèi)容包括：
　　1、根據(jù)去卷積的基本原理建立去卷積基本模型，對(duì)雷達(dá)回波形成系統(tǒng)中的相關(guān)物理參量天線方向圖函數(shù)、噪聲進(jìn)行建模，簡(jiǎn)單介紹目前應(yīng)用廣泛的提高雷達(dá)方位分辨率的合成孔徑技術(shù)、多普勒波束銳化技術(shù)以及近些年提出的 Scanned Time/Angle

3、Correlation技術(shù)的基本原理，加深對(duì)方位超分辨率的認(rèn)識(shí)。
　　2、針對(duì)時(shí)域去卷積基本模型，從時(shí)域研究實(shí)現(xiàn)方位超分辨的方法廣義逆濾波算法，分別應(yīng)用線性卷積和圓周卷積實(shí)現(xiàn)算法，并應(yīng)用不同的天線方向圖函數(shù)，對(duì)這兩種實(shí)現(xiàn)方式進(jìn)行仿真分析，實(shí)現(xiàn)了波束銳化，分辨力得到一定提高。
　　3、針對(duì)頻域去卷積基本模型，從頻域研究實(shí)現(xiàn)去卷積的方位超分辨方法維納濾波和加窗函數(shù)的維納濾波方法，維納濾波對(duì)不同天線方向圖函數(shù)仿真分析對(duì)比，加窗函數(shù)