基于光干涉技術(shù)的薄膜潤(rùn)滑特性研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代機(jī)械工藝的迅速發(fā)展,許多精密儀器及工作于特定工況下的摩擦副間的油膜厚度已經(jīng)減小至納米量級(jí),潤(rùn)滑狀態(tài)處于薄膜潤(rùn)滑,如何在如此微小的間隙之間保證充分的潤(rùn)滑對(duì)于減少磨損、延長(zhǎng)設(shè)備壽命和提高工作可靠性等方面具有重要的實(shí)踐意義,目前對(duì)于薄膜潤(rùn)滑狀態(tài)的理論特性及工作機(jī)理的研究工作仍需完善。
　　 本文以光干涉法相對(duì)光強(qiáng)原理為基礎(chǔ),結(jié)合溥膜潤(rùn)滑機(jī)理的現(xiàn)有研究成果,研制了光干涉法納米級(jí)潤(rùn)滑膜厚測(cè)量?jī)x,該測(cè)量?jī)x分辨率高,工作穩(wěn)定可靠,能夠

2、用來(lái)針對(duì)低速、輕載工況下點(diǎn)接觸式純滑動(dòng)潤(rùn)滑摩擦副間的薄膜潤(rùn)滑特性開(kāi)展實(shí)驗(yàn)研究。研究了該測(cè)量?jī)x的相關(guān)實(shí)驗(yàn)規(guī)范和實(shí)驗(yàn)步驟,對(duì)下一步實(shí)驗(yàn)的開(kāi)展具有指導(dǎo)意義。
　　 本文在低速、輕載工況下,針對(duì)載荷、速度、潤(rùn)滑劑粘度及接觸表面粗糙度等因素對(duì)點(diǎn)接觸溥膜潤(rùn)滑狀態(tài)下油膜厚度的影響進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)分析,實(shí)驗(yàn)結(jié)果發(fā)現(xiàn),Hamrock-Dowson理論公式的適用范圍有一定限度,低速、膜厚較小時(shí)實(shí)測(cè)膜厚值與理論公式曲線的偏離較大,隨著速度增加、膜厚增大實(shí)測(cè)