涂覆型雷達(dá)吸波涂層厚度超聲測(cè)量原理及裝置.pdf

1、在現(xiàn)代制導(dǎo)技術(shù)和探測(cè)技術(shù)高速進(jìn)步的今天，雷達(dá)隱身材料技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用是提高武器系統(tǒng)生存能力、增強(qiáng)國(guó)防能力的重要手段，因此世界各國(guó)越來(lái)越重視雷達(dá)吸波材料的研制。而涂覆型雷達(dá)吸波涂層由于工藝簡(jiǎn)單、施工方便及對(duì)目標(biāo)系統(tǒng)的外形適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn)，成為當(dāng)代隱身技術(shù)發(fā)展的重點(diǎn)方向之一。在涂覆型雷達(dá)吸波涂層的研制、涂覆和質(zhì)量控制過(guò)程中，其厚度是影響涂層性能的重要參量，因此涂層厚度的無(wú)損表征對(duì)吸波涂層的發(fā)展及應(yīng)用極其重要。由于采用超聲脈沖回波測(cè)量涂覆型雷達(dá)

2、吸波涂層厚度過(guò)程中，受涂層聲衰減、環(huán)境隨機(jī)噪聲和多層涂層結(jié)構(gòu)等因素的影響，傳統(tǒng)的超聲時(shí)域測(cè)厚法難以獲得準(zhǔn)確的涂層厚度。
　　本課題提出采用超聲脈沖回波技術(shù)并結(jié)合聲壓反射系數(shù)信號(hào)處理實(shí)現(xiàn)涂覆型雷達(dá)吸波涂層的厚度測(cè)量，并開發(fā)出一套用于涂覆型雷達(dá)吸波涂層的厚度測(cè)量裝置。
　　本文根據(jù)垂直入射的超聲波在涂層中的傳播特性，推導(dǎo)出聲壓反射系數(shù)功率譜、自相關(guān)函數(shù)和倒頻譜的表達(dá)式，并提取反映涂層厚度的特征參數(shù)。在此基礎(chǔ)上，確定了涂層超聲測(cè)厚

3、裝置的主要參數(shù):探頭帶寬(-6dB)須大于7.5MHz，聲楔塊長(zhǎng)度須大于30.6mm。最終選用Olympus5072脈沖發(fā)生器、配備長(zhǎng)度30.6mm聲楔塊、標(biāo)稱頻率15MHz探頭和TDS2012C示波器等作為硬件，構(gòu)成測(cè)厚裝置。
　　隨后，基于.NET平臺(tái)構(gòu)建了測(cè)厚裝置的配套軟件，并開發(fā)聲壓反射系數(shù)功率譜、自相關(guān)函數(shù)和倒頻譜信號(hào)處理模塊?；赩ISA通用標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)了控制TDS2012C示波器的動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)(Dynamic Link L