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1、隨著微波器件的迅速發(fā)展,對(duì)微波器件性能的要求也越來越高。在微波器件的實(shí)際工作過程中,必然會(huì)有一部分能量轉(zhuǎn)化為熱能,微波器件將會(huì)有一定溫度的升高,進(jìn)而會(huì)引起微波器件發(fā)生一定的形變,使微波器件的電磁性能發(fā)生不同程度的變化。所以在微波器件的設(shè)計(jì)和加工過程中,熱分析和熱設(shè)計(jì)已經(jīng)成為微波器件設(shè)計(jì)中必須要考慮的因素。
本文將結(jié)合項(xiàng)目“大功率放大器在EMC測(cè)試中的反射損耗研究”,對(duì)無源微波器件進(jìn)行一定程度的熱分析。本文主要做了如下工作:
2、r> 第一,首先介紹了熱分析的發(fā)展情況和現(xiàn)狀,介紹了熱分析和熱設(shè)計(jì)的一些理論。主要包括熱可靠性的研究方法、熱分析的研究方法、熱分析及熱設(shè)計(jì)的研究現(xiàn)狀、溫度對(duì)可靠性的影響。
第二,本文介紹了傳熱學(xué)理論。傳熱主要有三種方式:熱傳導(dǎo)、熱對(duì)流和熱輻射。本文主要從熱傳導(dǎo)方面考慮微波器件熱的傳熱方式,不考慮熱對(duì)流和熱輻射。接著介紹了熱彈性力學(xué)理論,溫度的上升必然導(dǎo)致微波器件的模型在結(jié)構(gòu)上有一定的變化。
第三,本文對(duì)三種微波無源
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